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1. (WO2017208690) GABARIT DE CONDUCTION DE CONTACT ET DISPOSITIF D'INSPECTION
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N° de publication : WO/2017/208690 N° de la demande internationale : PCT/JP2017/016548
Date de publication : 07.12.2017 Date de dépôt international : 26.04.2017
CIB :
G01R 1/067 (2006.01) ,G01R 1/073 (2006.01) ,G01R 31/26 (2014.01) ,H01L 21/66 (2006.01) ,H01R 33/76 (2006.01)
Déposants : NIDEC-READ CORPORATION[JP/JP]; 10, Tsutsumisoto-cho, Nishikyogoku, Ukyo-ku, Kyoto-shi, Kyoto 6150854, JP
Inventeurs : NUMATA Kiyoshi; JP
Mandataire : YANAGINO Takao; JP
MORIOKA Norio; JP
SEKIGUCHI Hisayoshi; JP
OHNISHI Hiroto; JP
Données relatives à la priorité :
2016-10913531.05.2016JP
Titre (EN) CONTACT CONDUCTION JIG AND INSPECTION DEVICE
(FR) GABARIT DE CONDUCTION DE CONTACT ET DISPOSITIF D'INSPECTION
(JA) 接触導電治具、及び検査装置
Abrégé : front page image
(EN) [Problem] To provide a contact conduction jig and an inspection device which easily improve the ability to absorb variations in height of an object to be in contact with. [Solution] An inspection jig 3 is provided with: a support plate 31 that is a plate-like member and has formed therein a plurality of through-holes H penetrating through the member in the thickness direction; probes Pr that are respectively inserted into the plurality of through-holes (H) and have a tubular shape and a conductive property; and elastomers E that elastically hold the probes Pr inside the through-holes H. Each of the probes Pr has a helical first spring part SO1 that extends and contracts in the axial direction of the corresponding probe Pr and that has a winding direction in a first direction.
(FR) La présente invention vise à fournir un gabarit de conduction de contact et un dispositif d'inspection qui améliorent facilement la capacité à absorber des variations de hauteur d'un objet destiné à être en contact avec ce dernier. À cet effet, l'invention concerne un gabarit d'inspection 3 qui comprend : une plaque de support 31 qui est un élément en forme de plaque et dans lequel sont formés une pluralité de trous traversants H qui pénètrent à travers l'élément dans la direction de l'épaisseur ; des sondes Pr qui sont respectivement introduites dans la pluralité de trous traversants (H) et ont une forme tubulaire et une propriété conductrice ; et des élastomères E qui maintiennent élastiquement les sondes Pr à l'intérieur des trous traversants H. Chacune des sondes Pr a une première partie ressort hélicoïdal SO1 qui s'étend et se contracte dans la direction axiale de la sonde correspondante Pr et qui a une direction d'enroulement dans une première direction.
(JA) 【課題】接触対象物の高さばらつきの吸収能力を向上することが容易な接触導電治具、及び検査装置を提供する。 【解決手段】検査治具3は、板状の部材であって、板厚方向に貫通する複数の貫通孔Hが形成された支持プレート31と、複数の貫通孔Hにそれぞれ挿通された、筒状の形状を有すると共に導電性を有するプローブPrと、各プローブPrを、各貫通孔H内で弾性的に保持するエラストマEとを備え、各プローブPrには、当該プローブPrの軸方向に伸縮すると共に巻き方向が第一方向の螺旋状の第一ばね部SO1が形成されている。
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)