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1. (WO2017207352) DÉTECTION D'ERREUR SUR DES BROCHES D'ENTRÉE/SORTIE DE CIRCUIT INTÉGRÉ
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international    Formuler une observation

N° de publication :    WO/2017/207352    N° de la demande internationale :    PCT/EP2017/062409
Date de publication : 07.12.2017 Date de dépôt international : 23.05.2017
CIB :
G01R 31/319 (2006.01), G01R 31/30 (2006.01), H05B 33/08 (2006.01), H05B 37/03 (2006.01)
Déposants : PHILIPS LIGHTING HOLDING B.V. [NL/NL]; High Tech Campus 45 5656 AE Eindhoven (NL)
Inventeurs : FANG, Yuhong; (NL).
CIOLEK, Mark; (NL).
GUDIPATI, Harshitha; (NL).
GRUEV, George; (NL)
Mandataire : VAN EEUWIJK, Alexander, Henricus, Walterus; (NL).
VERWEIJ, Petronella, Danielle; (NL)
Données relatives à la priorité :
62/343998 01.06.2016 US
16174882.7 17.06.2016 EP
Titre (EN) ERROR DETECTION ON INTEGRATED CIRCUIT INPUT/OUTPUT PINS
(FR) DÉTECTION D'ERREUR SUR DES BROCHES D'ENTRÉE/SORTIE DE CIRCUIT INTÉGRÉ
Abrégé : front page image
(EN)A method for detecting error on an input/output (IO) pin of an integrated circuit includes using the input/output pin of the integrated circuit in a first mode by receiving or sending a first value as analog data or digital data. The input/output pin is toggled in a test mode after each instance of using the input/output pin in the first mode. The test mode includes providing a second value disparate from the first value during a set time after using the input/output pin in the first mode, receiving back during the set time a resulting value based on providing the second value, measuring the resulting value, and identifying an error on the input/output pin of the integrated circuit based on the measured resulting value.
(FR)La présente invention concerne un procédé de détection d'erreur sur une broche d'entrée/sortie (ES) d'un circuit intégré qui comprend l'utilisation de la broche d'entrée/sortie du circuit intégré dans un premier mode par réception ou envoi d'une première valeur sous forme de donnée analogique ou donnée numérique. La broche d'entrée/sortie est basculée dans un mode de test après chaque instance d'utilisation de la broche d'entrée/sortie dans le premier mode. Le mode de test comprend la fourniture d'une deuxième valeur distincte de la première valeur pendant un temps défini après l'utilisation de la broche d'entrée/sortie dans le premier mode, la réception en retour, pendant le temps défini, d'une valeur résultante sur la base de la fourniture de la deuxième valeur, la mesure de la valeur résultante, et l'identification d'une erreur sur la broche d'entrée/sortie du circuit intégré sur la base de la valeur résultante mesurée.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)