Mobile |
Deutsch |
English |
Español |
日本語 |
한국어 |
Português |
Русский |
中文 |
العربية |
PATENTSCOPE
Recherche dans les collections de brevets nationales et internationales
Options
Recherche
Résultats
Interface
Office
Traduction
Langue d'interrogation
Bulgare
Laotien
Roumain
allemand
anglais
arabe
chinois
coréen
danois
espagnol
estonien
français
hébreu
indonésien
italien
japonais
polonais
portugais
russe
suédois
thaï
toutes
vietnamien
Stemming/Racinisation
Trier par:
Pertinence
Date de pub. antichronologique
Date de pub. chronologique
Date de demande antichronologique
Date de demande chronologique
Nombre de réponses par page
10
50
100
200
Langue pour les résultats
Langue d'interrogation
anglais
espagnol
coréen
vietnamien
hébreu
portugais
français
allemand
japonais
russe
chinois
italien
polonais
danois
suédois
arabe
estonien
indonésien
thaï
Bulgare
Laotien
Roumain
Champs affichés
Numéro de la demande
Date de publication
Abrégé
Nom du déposant
Classification internationale
Image
Nom de l'inventeur
Tableau/Graphique
Tableau
Graphique
Regroupement
*
Aucun
Offices of NPEs
Code CIB
Déposants
Inventeurs
Dates de dépôt
Dates de publication
Pays
Nombre d'entrées par groupe
0
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
25
0
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
25
Download Fields
NPEs
Page de recherche par défaut
Recherche simple
Recherche avancée
Combinaison de champs
Recherche par semaine (PCT)
Expansion de requête multilingue
Traducteur
Recherche simple
Recherche avancée
Combinaison de champs
Recherche par semaine (PCT)
Expansion de requête multilingue
Traducteur
Champ de recherche par défaut
Front Page
Any Field
Full Text
ID/Numbers
IPC
Names
Dates
Front Page
Any Field
Full Text
ID/Numbers
IPC
Names
Dates
Langue de l'interface
English
Deutsch
Français
Español
日本語
中文
한국어
Português
Русский
English
Deutsch
Français
Español
日本語
中文
한국어
Português
Русский
Interface multi-fenêtres
Bulle d'aide
Bulles d'aide pour la CIB
Instant Help
Expanded Query
Office:
Tous
Tous
PCT
Afrique
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO)
Égypte
Kenya
Maroc
Tunisie
Afrique du Sud
Amérique
États-Unis d'Amérique
Canada
LATIPAT
Argentine
Brésil
Chili
Colombie
Costa Rica
Cuba
Rép. dominicaine
Équateur
El Salvador
Guatemala
Honduras
Mexique
Nicaragua
Panama
Pérou
Uruguay
Asie-Europe
Australie
Bahreïn
Chine
Danemark
Estonie
Office eurasien des brevets (OEAB)
Office européen des brevets (OEB
France
Allemagne
Allemagne (données RDA)
Israël
Japon
Jordanie
Portugal
Fédération de Russie
Fédération de Russie (données URSS)
Arabie saoudite
Émirats arabes unis
Espagne
Rép. de Corée
Inde
Royaume-Uni
Géorgie
Bulgarie
Italie
Roumanie
République démocratique populaire lao
Asean
Singapour
Viet Nam
Indonésie
Cambodge
Malaisie
Brunei Darussalam
Philippines
Thaïlande
WIPO translate (Wipo internal translation tool)
Recherche
Recherche simple
Recherche avancée
Combinaison de champs
Expansion de requête multilingue
Composés chimiques (connexion requise)
Options de navigation
Recherche par semaine (PCT)
Archive Gazette
Entrées de Phase National
Téléchargement intégral
Téléchargement incrémental (7 derniers jours)
Listages de séquences
L’inventaire vert selon la CIB
Portail d'accès aux registres de brevets nationaux
Traduction
WIPO Translate
WIPO Pearl
Quoi de neuf
Quoi de neuf sur PATENTSCOPE
Connexion
ui-button
Connexion
Créer un compte
Options
Options
Aide
ui-button
Comment rechercher
Guide d'utilisation PATENTSCOPE
Guide d'utilisation: Recherche multilingue
User Guide: ChemSearch
Syntaxe de recherche
Définition des champs
Code pays
Données disponibles
Demandes PCT
Entrée en phase nationale PCT
Collections nationales
Global Dossier public
FAQ
Observations et contact
Codes INID
Codes de type de document
Tutoriels
À propos
Aperçu
Avertissement & Conditions d'utilisation
Clause de non-responsabilité
Accueil
Services
PATENTSCOPE
Traduction automatique
Wipo Translate
arabe
allemand
anglais
espagnol
français
japonais
coréen
portugais
russe
chinois
Google Translate
Bing/Microsoft Translate
Baidu Translate
arabe
anglais
français
allemand
espagnol
portugais
russe
coréen
japonais
chinois
...
Italian
Thai
Cantonese
Classical Chinese
Certains contenus de cette application ne sont pas disponibles pour le moment.
Si cette situation persiste, veuillez nous contacter à
Observations et contact
1. (WO2017206772) DIODE ÉLECTROLUMINESCENTE À FONCTION DE PROTECTION ÉLECTROSTATIQUE ET SON PROCÉDÉ DE FABRICATION
Données bibliographiques PCT
Description
Revendications
Dessins
Phase nationale
Notifications
Documents
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international
Formuler une observation
Lien permanent
Lien permanent
Ajouter aux favoris
N° de publication :
WO/2017/206772
N° de la demande internationale :
PCT/CN2017/085659
Date de publication :
07.12.2017
Date de dépôt international :
24.05.2017
CIB :
H01L 33/02
(2010.01) ,
H01L 33/00
(2010.01)
H
ÉLECTRICITÉ
01
ÉLÉMENTS ÉLECTRIQUES FONDAMENTAUX
L
DISPOSITIFS À SEMI-CONDUCTEURS; DISPOSITIFS ÉLECTRIQUES À L'ÉTAT SOLIDE NON PRÉVUS AILLEURS
33
Dispositifs à semi-conducteurs ayant au moins une barrière de potentiel ou une barrière de surface, spécialement adaptés pour l'émission de lumière; Procédés ou appareils spécialement adaptés à la fabrication ou au traitement de ces dispositifs ou de leurs parties constitutives; Détails
02
caractérisés par les corps semi-conducteurs
H
ÉLECTRICITÉ
01
ÉLÉMENTS ÉLECTRIQUES FONDAMENTAUX
L
DISPOSITIFS À SEMI-CONDUCTEURS; DISPOSITIFS ÉLECTRIQUES À L'ÉTAT SOLIDE NON PRÉVUS AILLEURS
33
Dispositifs à semi-conducteurs ayant au moins une barrière de potentiel ou une barrière de surface, spécialement adaptés pour l'émission de lumière; Procédés ou appareils spécialement adaptés à la fabrication ou au traitement de ces dispositifs ou de leurs parties constitutives; Détails
Déposants :
厦门三安光电有限公司 XIAMEN SAN'AN OPTOELECTRONICS CO., LTD.
[CN/CN]; 中国福建省厦门市 同安区洪塘镇民安大道841-899号 No.841-899, Min An Road Hongtang Town, Tongan District Xiamen, Fujian 361100, CN
Inventeurs :
吴超瑜 WU, Chaoyu
; CN
吴俊毅 WU, Chun-Yi
; CN
王笃祥 WANG, Duxiang
; CN
Données relatives à la priorité :
201610381162.3
01.06.2016
CN
Titre
(EN)
LIGHT EMITTING DIODE WITH ELECTROSTATIC PROTECTION FUNCTION AND MANUFACTURING METHOD THEREFOR
(FR)
DIODE ÉLECTROLUMINESCENTE À FONCTION DE PROTECTION ÉLECTROSTATIQUE ET SON PROCÉDÉ DE FABRICATION
(ZH)
具有静电保护的发光二极管及其制作方法
Abrégé :
(EN)
A light emitting diode with an electrostatic protection function and a manufacturing method therefor. An electrostatic protection region, an electrode region and a light emission region are arranged on a light emission surface of a chip. A first N-type ohmic contact electrode (141) is formed on the electrode region. An antistatic protection structure composed of an etching stop layer (116), tunnel junctions (114, 115), electrostatic protection layers (112, 113) and a second N-type ohmic contact electrode (142) is formed in the electrostatic protection region. When the light emitting diode is subjected to an electrostatic reverse biased voltage, the antistatic protection structure works. The current passes through the first N-type ohmic contact electrode (141) and the electrostatic protection structure to the second N-type ohmic contact electrode (142), so that the damage of the light emitting layer caused by an overhigh electrostatic reverse biased voltage can be avoided.
(FR)
L'invention porte sur une diode électroluminescente à fonction de protection électrostatique et sur son procédé de fabrication. Une région de protection électrostatique, une région d'électrode et une région d'émission de lumière sont agencées sur une surface d'émission de lumière d'une puce. Une première électrode de contact ohmique du type N (141) est formée sur la région d'électrode. Une structure de protection antistatique composée d'une couche d'arrêt de gravure (116), de jonctions tunnel (114, 115), de couches de protection électrostatique (112, 113) et d'une seconde électrode de contact ohmique du type N (142) est formée dans la région de protection électrostatique. Lorsque la diode électroluminescente est soumise à une tension de polarisation inverse électrostatique, la structure de protection antistatique fonctionne. Le courant passe par la première électrode de contact ohmique du type N (141) et la structure de protection électrostatique vers la seconde électrode de contact ohmique du type N (142), de façon à pouvoir éviter l'endommagement de la couche électroluminescente provoqué par une tension de polarisation inverse électrostatique excessivement élevée.
(ZH)
一种具有静电保护的发光二极管及其制作方法,其在芯片出光面上设置静电保护区、电极区和出光区,在电极区上形成第一N型欧姆接触电极(141),在静电保护区形成蚀刻截止层(116)、隧穿结(114、115)、静电保护层(112、113)、第二N型欧姆接触电极(142)构成的抗静电保护结构,当发光二极管受到静电逆向偏压时,抗静电保护结构工作,电流经由第一N型欧姆接触电极(141)、静电保护结构至第二N型欧姆接触电极(142),避免静电逆向偏压过高造成发光层被破坏。
États désignés :
AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Langue de publication :
chinois (
ZH
)
Langue de dépôt :
chinois (
ZH
)