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1. (WO2017206052) PROCÉDÉ ET DISPOSITIF DESTINÉS À ÊTRE UTILISÉS DANS LA DÉTECTION DE PRESSION
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N° de publication :    WO/2017/206052    N° de la demande internationale :    PCT/CN2016/084030
Date de publication : 07.12.2017 Date de dépôt international : 31.05.2016
CIB :
G06F 3/044 (2006.01)
Déposants : SHENZHEN GOODIX TECHNOLOGY CO., LTD. [CN/CN]; Floor 13, Phase B, Tengfei Industrial Building Futian Freetrade Zone Shenzhen, Guangdong 518000 (CN)
Inventeurs : GUI, Xintao; (CN).
CHEN, Xiaoxiang; (CN).
ZHONG, Xiang; (CN)
Mandataire : LONGSUN LEAD IP LTD.; Rm.101, Building 3 No. 68 Beiqing Road, Haidian District Beijing 100094 (CN)
Données relatives à la priorité :
Titre (EN) METHOD AND DEVICE FOR USE IN DETECTING PRESSURE
(FR) PROCÉDÉ ET DISPOSITIF DESTINÉS À ÊTRE UTILISÉS DANS LA DÉTECTION DE PRESSION
(ZH) 用于检测压力的方法和装置
Abrégé : front page image
(EN)A method for use in detecting pressure, comprising: acquiring multiple pieces of sample data of a first electronic device, each piece of sample data of the multiple pieces of sample data of the first electronic device comprising a preset pressure of the first electronic device and feature data of the first electronic device, the feature data of the first electronic device being acquired by detecting a distension signal generated by applying the preset pressure of the first electronic device to an input medium of the first electronic device; determining a fitting function on the basis of the multiple pieces of sample data of the first electronic device, the fitting function expressing a correlation between the pressure applied on the input medium of the first electronic device and the feature data detected, the fitting function being used by a second electronic device for determining the pressure corresponding to the feature data detected when a force is applied to an input medium of the second electronic device. The method allows the correlation between the pressure and the feature data detected to be determined on the basis of the multiple pieces of sample data of the electronic devices.
(FR)L'invention concerne un procédé destiné à être utilisé dans la détection de pression, comprenant : l'acquisition de multiples éléments de données d'échantillon d'un premier dispositif électronique, chaque élément de données d'échantillon des multiples éléments de données d'échantillon du premier dispositif électronique comprenant une pression préréglée du premier dispositif électronique et des données caractéristiques du premier dispositif électronique, les données caractéristiques du premier dispositif électronique étant acquises par détection d'un signal de distension généré par application de la pression préréglée du premier dispositif électronique sur un support d'entrée du premier dispositif électronique ; la détermination d'une fonction d'ajustement sur la base des multiples éléments de données d'échantillon du premier dispositif électronique, la fonction d'ajustement exprimant une corrélation entre la pression appliquée sur le support d'entrée du premier dispositif électronique et les données caractéristiques détectées, la fonction d'ajustement étant utilisée par un second dispositif électronique pour déterminer la pression correspondant aux données caractéristiques détectées lorsqu'une force est appliquée sur un support d'entrée du second dispositif électronique. Le procédé permet à la corrélation entre la pression et les données caractéristiques détectées d'être déterminée sur la base des multiples éléments de données d'échantillon des dispositifs électroniques.
(ZH)一种用于检测压力的方法,包括:获取第一电子设备的多个样本数据,该第一电子设备的多个样本数据中的每个样本数据包括该第一电子设备的预设压力和该第一电子设备的特征数据,该第一电子设备的特征数据是由检测该第一电子设备的预设压力作用到该第一电子设备的输入媒介上产生的形变信号得到的;根据该第一电子设备的多个样本数据,确定拟合函数,该拟合函数表示作用到该第一电子设备的输入媒介上的压力与检测到的特征数据的对应关系,该拟合函数用于第二电子设备确定在该第二电子设备的输入媒介受到作用力时检测到的特征数据对应的压力。上述方法能够根据电子设备的多组样本数据,确定压力与检测到的特征数据的对应关系。
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : chinois (ZH)
Langue de dépôt : chinois (ZH)