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1. (WO2017205897) PROCÉDÉ DE FONCTIONNEMENT D'UN RELAIS À SEMI-CONDUCTEURS À SÉCURITÉ INTÉGRÉE
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N° de publication : WO/2017/205897 N° de la demande internationale : PCT/AU2017/000126
Date de publication : 07.12.2017 Date de dépôt international : 05.06.2017
CIB :
H01H 47/18 (2006.01) ,H03K 17/28 (2006.01)
H ÉLECTRICITÉ
01
ÉLÉMENTS ÉLECTRIQUES FONDAMENTAUX
H
INTERRUPTEURS ÉLECTRIQUES; RELAIS; SÉLECTEURS, DISPOSITIFS DE PROTECTION
47
Circuits autres que ceux appropriés à une application particulière du relais et prévue pour obtenir une caractéristique de fonctionnement donnée ou pour assurer un courant d'excitation donné
02
en vue de modifier le fonctionnement du relais
18
en vue d'introduire un retard dans le fonctionnement du relais
H ÉLECTRICITÉ
03
CIRCUITS ÉLECTRONIQUES FONDAMENTAUX
K
TECHNIQUE DE L'IMPULSION
17
Commutation ou ouverture de porte électronique, c. à d. par d'autres moyens que la fermeture et l'ouverture de contacts
28
Modifications pour introduire un retard avant commutation
Déposants :
DAVID STUCKEY INVESTMENTS PTY LTD [AU/AU]; 13 Trevi Crescent Tullamarine Victoria 3043, AU
Inventeurs :
STUCKEY, David Martin; AU
SEMKOW, Marc David; CA
OWENS, Marie Lise; CA
EKONANTO, Heri; ID
GRAHAM, Brent; CA
MAURO, David J.; CA
FARNSCHLAEDER, Udo Wilhelm; ZA
STRIKE, Michael Anthony; AU
SMART, Alastair Malcolm; AU
SUMMONS, Keith Malcolm; AU
Mandataire :
HOULIHAN, Elizabeth Eldred; Houlihan2 Level 1, 70 Doncaster Road Balwyn, North Victoria 3104, AU
Données relatives à la priorité :
201690217504.06.2016AU
Titre (EN) METHOD OF OPERATION OF A FAIL-SAFE SOLID STATE RELAY
(FR) PROCÉDÉ DE FONCTIONNEMENT D'UN RELAIS À SEMI-CONDUCTEURS À SÉCURITÉ INTÉGRÉE
Abrégé :
(EN) A method for operating a fail-safe programmable solid-state relay, the method comprising the steps of performing a set of self-tests at an initial start-up and cyclically during the powered state of the solid-state relay, wherein a self-test comprises continuously detecting and comparing a state of the at least one switch with an expected state therefor and wherein if any self-test within the set detects an unexpected state, substantially simultaneously therewith a failure flag is set in a non-volatile memory and the at least one switching circuits are set to a safe or default state; setting an integrity flag and an integrity count flag within the memory when all self-tests in the set are passed; and reading the failure flag from the memory at any subsequent start-up, wherein if the failure flag is not set, the integrity count flag is read and a set of self-tests is performed.
(FR) La présente invention concerne un procédé permettant de faire fonctionner un relais à semi-conducteurs programmable à sécurité intégrée, le procédé comprenant les étapes consistant à effectuer un ensemble d'autotests lors d'un démarrage initial et de façon cyclique pendant l'état alimenté du relais à semi-conducteurs, un autotest consistant à détecter et à comparer de façon continue un état du ou des commutateurs avec un état attendu pour ce dernier, ou ces derniers, et, si un quelconque autotest de l'ensemble détecte un état inattendu, sensiblement en même temps avec ce dernier, un drapeau de défaillance étant placé dans une mémoire non volatile et le ou les circuits de commutation étant mis à un état sûr ou par défaut ; à définir un drapeau d'intégrité et un drapeau de comptage d'intégrité dans la mémoire lorsque tous les autotests de l'ensemble sont passés ; et à lire le drapeau de défaillance à partir de la mémoire lors d'un démarrage ultérieur, si le drapeau de défaillance n'est pas défini, le drapeau de comptage d'intégrité est lu et un ensemble d'autotests est effectué.
front page image
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)