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1. (WO2017204591) DISPOSITIF ET PROCÉDÉ D’INSPECTION D’ÉTIQUETTE

Pub. No.:    WO/2017/204591    International Application No.:    PCT/KR2017/005510
Publication Date: 30 nov. 2017 International Filing Date: 26 mai 2017
IPC: G01N 21/88
G01J 1/42
G01N 21/17
Applicants: LEE, Eun-Seok
이은석
Inventors: LEE, Eun-Seok
이은석
Title: DISPOSITIF ET PROCÉDÉ D’INSPECTION D’ÉTIQUETTE
Abstract:
La présente invention concerne un dispositif d'inspection d'étiquette pour extraire et inspecter une étiquette imprimée sur une surface spéculaire présentant une irrégularité, et un procédé d'inspection d'étiquette utilisant celui-ci. Le dispositif d'inspection d'étiquette comporte un éclairage d’émission de lumière agencé sur un côté d'un objet ayant une surface spéculaire sur une surface inférieure de celui-ci, et l'éclairage émet la lumière vers le haut. Une plaque d'absorption de lumière est disposée au-dessus de l'éclairage et absorbe la lumière émise par l'éclairage. Un réflecteur est disposé sous l'objet, et la lumière, qui n'a pas été absorbée par la plaque d'absorption de lumière, se propage le long d'une surface latérale de l'objet, arrive au niveau du réflecteur, et est réfléchie par la surface interne du réflecteur de façon à être projetée sur la surface inférieure de l'objet. La lumière, qui est arrivée à la surface inférieure de l'objet, est réfléchie par celle-ci et est reçue par une lentille de réception de lumière disposée sous le réflecteur. Une image reçue par la lentille de réception de lumière est détectée par un capteur d'image disposé sous la lentille de réception de lumière.