WIPO logo
Mobile | Deutsch | English | Español | 日本語 | 한국어 | Português | Русский | 中文 | العربية |
PATENTSCOPE

Recherche dans les collections de brevets nationales et internationales
World Intellectual Property Organization
Recherche
 
Options de navigation
 
Traduction
 
Options
 
Quoi de neuf
 
Connexion
 
Aide
 
Traduction automatique
1. (WO2017203756) DISPOSITIF DE MESURE TRIDIMENSIONNELLE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international    Formuler une observation

N° de publication :    WO/2017/203756    N° de la demande internationale :    PCT/JP2017/005425
Date de publication : 30.11.2017 Date de dépôt international : 15.02.2017
CIB :
G01B 11/24 (2006.01), G01B 9/02 (2006.01), G01B 11/02 (2006.01), G01N 21/88 (2006.01), G01N 21/956 (2006.01)
Déposants : CKD CORPORATION [JP/JP]; 250, Ouji 2-chome, Komaki-shi, Aichi 4858551 (JP)
Inventeurs : ISHIGAKI Hiroyuki; (JP).
MAMIYA Takahiro; (JP)
Mandataire : KAWAGUCHI Mitsuo; (JP)
Données relatives à la priorité :
2016-104911 26.05.2016 JP
Titre (EN) THREE-DIMENSIONAL-MEASUREMENT DEVICE
(FR) DISPOSITIF DE MESURE TRIDIMENSIONNELLE
(JA) 三次元計測装置
Abrégé : front page image
(EN)Provided is a three-dimensional-measurement device with which it is possible to expand the range of measurement using light of differing wavelengths and to improve measurement efficiency. This three-dimensional-measurement device 1 is provided with: a first floodlight system 2A for causing first light that is synthesized light from light of a first wavelength and light of a second wavelength to be incident on a first surface 60a of a polarizing beam splitter 60; a second floodlight system 2B for causing second light that is synthesized light from light of a third wavelength and light of a fourth wavelength to be incident on a second surface 60b of the polarizing beam splitter 60; a first imaging system 4A that is capable of separating output light pertaining to the first light emitted from the second surface 60b into output light pertaining to the light of the first wavelength and output light pertaining to the light of the second wavelength, and imaging each of the lights; and a second imaging system 4B that is capable of separating output light pertaining to the second light emitted from the first surface 60a into output light pertaining to the light of the third wavelength and output light pertaining to the light of the fourth wavelength, and imaging each of the lights.
(FR)La présente invention concerne un dispositif de mesure tridimensionnelle grâce auquel il est possible d'étendre la plage de mesure au moyen de lumière de longueurs d'onde différentes et d'améliorer l'efficacité de mesure. À cet effet, l'invention concerne dispositif de mesure tridimensionnelle 1 équipé: d'un premier système de projecteur 2A pour entraîner l'incidence d'une première lumière qui est une lumière synthétisée à partir de la lumière d'une première longueur d'onde et de la lumière d'une deuxième longueur d'onde sur une première surface 60a d'un diviseur de faisceau polarisant 60; d'un second système de projecteur 2B pour entraîner l'incidence d'une seconde lumière qui est une lumière synthétisée à partir de la lumière d'une troisième longueur d'onde et de la lumière d'une quatrième longueur d'onde sur une seconde surface 60b du diviseur de faisceau polarisant 60; d'un premier système d'imagerie 4A qui est capable de séparer la lumière de sortie ayant trait à la première lumière émise depuis la seconde surface 60b en lumière de sortie ayant trait à la lumière de la première longueur d'onde et la lumière de sortie ayant trait à la lumière de la seconde longueur d'onde, et de former une image de chacune des lumières; et d'un second système d'imagerie 4B qui est capable de séparer la lumière de sortie ayant trait à la seconde lumière émise depuis la première surface 60a en une lumière de sortie ayant trait à la lumière de la troisième longueur d'onde et en une lumière de sortie ayant trait à la lumière de la quatrième longueur d'onde, et de former une image de chacune des lumières.
(JA)波長の異なる光を利用して、計測レンジの拡大を図ると共に、計測効率の向上を図ることのできる三次元計測装置を提供する。三次元計測装置1は、偏光ビームスプリッタ60の第1面60aに対し、第1波長光と第2波長光の合成光である第1光を入射させる第1投光系2Aと、偏光ビームスプリッタ60の第2面60bに対し、第3波長光と第4波長光の合成光である第2光を入射させる第2投光系2Bと、前記第2面60bから出射される第1光に係る出力光を第1波長光に係る出力光と第2波長光に係る出力光に分離しこれらをそれぞれ撮像可能な第1撮像系4Aと、前記第1面60aから出射される第2光に係る出力光を第3波長光に係る出力光と第4波長光に係る出力光に分離しこれらをそれぞれ撮像可能な第2撮像系4Bとを備えている。
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)