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1. (WO2017203293) APPAREILS ET PROCÉDÉS DE DÉTECTION DE TEMPÉRATURE LE LONG D'UN PUITS DE FORAGE À L'AIDE D’ÉLÉMENTS SEMI-CONDUCTEURS
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international    Formuler une observation

N° de publication :    WO/2017/203293    N° de la demande internationale :    PCT/GB2017/051523
Date de publication : 30.11.2017 Date de dépôt international : 26.05.2017
CIB :
E21B 47/06 (2012.01), G01K 7/16 (2006.01)
Déposants : METROL TECHNOLOGY LIMITED [GB/GB]; Unit 24 Kirkhill Place Kirkhill Industrial Estate, Dyce Aberdeen, Aberdeenshire AB21 0GU (GB)
Inventeurs : JARVIS, Leslie; (GB).
ROSS, Shaun Compton; (GB)
Mandataire : HGF LIMITED (ABERDEEN); 1 City Walk Leeds West Yorkshire LS11 9DX (GB)
Données relatives à la priorité :
1609291.8 26.05.2016 GB
Titre (EN) APPARATUSES AND METHODS FOR SENSING TEMPERATURE ALONG A WELLBORE USING SEMICONDUCTOR ELEMENTS
(FR) APPAREILS ET PROCÉDÉS DE DÉTECTION DE TEMPÉRATURE LE LONG D'UN PUITS DE FORAGE À L'AIDE D’ÉLÉMENTS SEMI-CONDUCTEURS
Abrégé : front page image
(EN)Apparatus (100) for use in sensing temperature in a wellbore, comprising: tubing (110) comprising a plurality of temperature sensor modules (120, 320, 420, 520, 620, 720) provided at locations along the inside of the tubing, said temperature sensor modules comprising temperature sensors (321, 421) provided at least in part by at least one semiconductor element having electrical properties that vary with temperature; an electrical network (115) configured to electrically connect to the semiconductor elements to in use allow measuring of the respective electrical properties of the semiconductor elements to infer a thermal characteristic of the semiconductor element; and at least one control module (130, 330, 430) electrically connected to multiple temperature sensor modules, via the electrical network, and configured to receive and process an electrical signal associated with the temperature sensor modules to enable inference of the temperature of the semiconductor elements and the environment to which the tubing is exposed at the location of that semiconductor element.
(FR)L'invention concerne un appareil (100) à utiliser pour détecter la température dans un puits de forage et qui comprend : un tubage (110) comprenant une pluralité de modules de capteur de température (120, 320, 420, 520, 620, 720) disposés à des emplacements le long de l'intérieur du tubage, lesdits modules de capteur de température comprenant des capteurs de température (321, 421) fournis au moins en partie par au moins un élément semi-conducteur ayant des propriétés électriques qui varient avec la température ; un réseau électrique (115), configuré pour se connecter électriquement aux éléments semi-conducteurs pour permettre, en utilisation, la mesure des propriétés électriques respectives des éléments semi-conducteurs afin de déduire une caractéristique thermique de l'élément semi-conducteur ; au moins un module de commande (130, 330, 430) connecté électriquement aux multiples modules de capteur de température, par l'intermédiaire du réseau électrique, et configuré pour recevoir et traiter un signal électrique associé aux modules de capteur de température pour permettre la déduction de la température des éléments semi-conducteurs et de l'environnement auquel le tubage est exposé à l'emplacement de cet élément semi-conducteur.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)