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1. (WO2017199652) SYSTÈME DE DIAGNOSTIC ET DISPOSITIF DE COMMANDE ÉLECTRONIQUE
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N° de publication :    WO/2017/199652    N° de la demande internationale :    PCT/JP2017/015068
Date de publication : 23.11.2017 Date de dépôt international : 13.04.2017
CIB :
G05B 23/02 (2006.01)
Déposants : HITACHI, LTD. [JP/JP]; 6-6, Marunouchi 1-chome, Chiyoda-ku, Tokyo 1008280 (JP)
Inventeurs : HORIGUCHI Tatsuya; (JP).
HIROTSU Teppei; (JP).
IWASAWA Hiroshi; (JP)
Mandataire : TODA Yuji; (JP)
Données relatives à la priorité :
2016-097576 16.05.2016 JP
Titre (EN) DIAGNOSTIC SYSTEM AND ELECTRONIC CONTROL DEVICE
(FR) SYSTÈME DE DIAGNOSTIC ET DISPOSITIF DE COMMANDE ÉLECTRONIQUE
(JA) 診断システム及び電子制御装置
Abrégé : front page image
(EN)The objective of the present invention is to improve the reliability of a device while suppressing an increase in implementation costs and a concomitant reduction in operating speed, by providing a scheme for detecting and preventing software errors without multiplexing. This diagnostic system is provided with: an initial parameter generating unit which generates a plurality of initial parameters predicted on the basis of an input from the outside; a computing unit which includes a plurality of computing elements which compute an optimal solution for the initial parameters using an evaluation function describing the control objective; and a diagnosing unit which performs a diagnosis of the computing unit on the basis of the output from the computing unit; characterized in that, if an optimal solution candidate is discovered that provides an evaluation value deviating by an amount at least equal to a fixed threshold from a value that the evaluation value could adopt, from among the evaluation values corresponding to each optimal solution for each initial parameter, the diagnosing unit diagnoses an error in the computing unit.
(FR)La présente invention a pour objet d'améliorer la fiabilité d'un dispositif tout en supprimant une augmentation des coûts de mise en œuvre et une réduction concomitante de la vitesse de fonctionnement, en fournissant un schéma permettant de détecter et d'empêcher des erreurs logicielles sans multiplexage. Ce système de diagnostic comporte : une unité de génération de paramètres initiaux qui génère une pluralité de paramètres initiaux prédits sur la base d'une entrée provenant de l'extérieur ; une unité de calcul qui comprend une pluralité d'éléments de calcul qui calculent une solution optimale pour les paramètres initiaux à l'aide d'une fonction d'évaluation décrivant l'objectif de commande ; et une unité de diagnostic qui effectue un diagnostic de l'unité de calcul sur la base de la sortie provenant de l'unité de calcul ; caractérisé en ce que, si un candidat de solution optimale est découvert, lequel fournit une valeur d'évaluation s'écartant d'une quantité au moins égale à un seuil fixe d'une valeur que la valeur d'évaluation pourrait adopter, parmi les valeurs d'évaluation correspondant à chaque solution optimale pour chaque paramètre initial, l'unité de diagnostic diagnostique une erreur dans l'unité de calcul.
(JA)多重化を行うことなくソフトエラーを検出し防止する方式を提供することで,実装コスト増大やそれに伴う動作速度低減を抑制しつつ装置の信頼性を向上する。 外部からの入力に基づいて予測される複数の初期パラメータを生成する初期パラメータ生成部と,制御目的を記述した評価関数を用いて前記初期パラメータに対する最適解を演算する演算器を複数有する演算部と,前記演算部の出力に基づいて該演算部の診断を行う診断部とを備え,前記診断部は,前記各初期パラメータに対する各最適解に対応する評価値のうち,評価値が取り得る値から一定の閾値以上逸脱する評価値を与える最適解候補が発見された場合に,前記演算部のエラーと診断することを特徴とする。
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)