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1. (WO2017199542) SYSTÈME D'ÉVALUATION DE STRUCTURE, DISPOSITIF D'ÉVALUATION DE STRUCTURE ET PROCÉDÉ D'ÉVALUATION DE STRUCTURE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international    Formuler une observation

N° de publication :    WO/2017/199542    N° de la demande internationale :    PCT/JP2017/008818
Date de publication : 23.11.2017 Date de dépôt international : 06.03.2017
CIB :
G01N 29/14 (2006.01), G01N 29/06 (2006.01), G01N 29/07 (2006.01)
Déposants : KABUSHIKI KAISHA TOSHIBA [JP/JP]; 1-1, Shibaura 1-chome, Minato-ku, Tokyo 1058001 (JP).
KYOTO UNIVERSITY [JP/JP]; 36-1, Yoshida-honmachi, Sakyo-ku, Kyoto-shi, Kyoto 6068501 (JP)
Inventeurs : WATABE Kazuo; (JP).
TAKAMINE Hidefumi; (JP).
SHIOTANI Tomoki; (JP)
Mandataire : SHIGA INTERNATIONAL PATENT OFFICE; 1-9-2, Marunouchi, Chiyoda-ku, Tokyo 1006620 (JP)
Données relatives à la priorité :
2016-098951 17.05.2016 JP
Titre (EN) STRUCTURE ASSESSMENT SYSTEM, STRUCTURE ASSESSMENT DEVICE AND STRUCTURE ASSESSMENT METHOD
(FR) SYSTÈME D'ÉVALUATION DE STRUCTURE, DISPOSITIF D'ÉVALUATION DE STRUCTURE ET PROCÉDÉ D'ÉVALUATION DE STRUCTURE
(JA) 構造物評価システム、構造物評価装置及び構造物評価方法
Abrégé : front page image
(EN)A structure assessment system according to one embodiment comprises a plurality of AE sensors, a signal processing unit, a position locating unit, a speed calculating unit, and an assessment unit. The AE sensors detect elastic waves generated by a structure. The signal processing unit extracts an AE signal that includes information pertaining to the elastic waves, by performing signal processing on the elastic waves detected by the AE sensors. The position locating unit derives a source distribution that represents the distribution of sources of the elastic waves generated by the structure, on the basis of the AE signal. The speed calculating unit derives, on the basis of the AE signal, the velocity of propagation of the elastic wave generated by the structure. The assessment unit assesses the soundness of the structure on the basis of the source distribution and the velocity of propagation.
(FR)Selon un mode de réalisation, l'invention concerne un système d'évaluation de structure qui comprend une pluralité de capteurs AE, une unité de traitement de signal, une unité de localisation de position, une unité de calcul de vitesse et une unité d'évaluation. Les capteurs AE détectent les ondes élastiques générées par une structure. L'unité de traitement de signal extrait un signal AE qui comprend des informations relatives aux ondes élastiques, en effectuant un traitement de signal sur les ondes élastiques détectées par les capteurs AE. L'unité de localisation de position dérive une distribution de source qui représente la distribution des sources des ondes élastiques générées par la structure, sur la base du signal AE. L'unité de calcul de vitesse dérive, sur la base du signal AE, la vitesse de propagation de l'onde élastique générée par la structure. L'unité d'évaluation évalue la qualité de la structure sur la base de la distribution de source et de la vitesse de propagation.
(JA)実施形態の構造物評価システムは、複数のAEセンサと、信号処理部と、位置標定部と、速度演算部と、評価部とを持つ。AEセンサは、構造物より発生した弾性波を検出する。信号処理部は、前記AEセンサによって検出された前記弾性波に対して信号処理を行うことによって前記弾性波に関する情報を含むAE信号を抽出する。位置標定部は、前記AE信号に基づいて、前記構造物で発生した前記弾性波の発信源の分布を表す発信源分布を導出する。速度演算部は、前記AE信号に基づいて、前記構造物で発生した前記弾性波の伝搬速度を導出する。評価部は、前記発信源分布と、前記弾性波の伝搬速度とに基づいて、前記構造物の健全性を評価する。
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)