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1. (WO2017199517) DISPOSITIF DE SÉLECTION DE TEST

Pub. No.:    WO/2017/199517    International Application No.:    PCT/JP2017/007124
Publication Date: Fri Nov 24 00:59:59 CET 2017 International Filing Date: Sat Feb 25 00:59:59 CET 2017
IPC: G06F 11/36
Applicants: NTT DOCOMO, INC.
株式会社NTTドコモ
Inventors: MASUDA Shinya
増田 真也
YOSHIKAWA Takashi
吉川 貴
ASANO Koichi
浅野 浩一
Title: DISPOSITIF DE SÉLECTION DE TEST
Abstract:
Selon l’invention, une unité d'acquisition d'informations de différences d’OS (11) acquiert des informations de différences qui indiquent des informations de programmes modifiés parmi des programmes dans un OS. Une unité d'identification de site de correspondance de différences (16) identifie un site dans un programme d'application qui correspond aux informations de différences. Une unité de sélection de test (18) acquiert des informations d'élément testé qui comprennent un site exécuté avec le programme d'application dans chaque test, et sélectionne le test dans lequel le site de programme d'application inclus dans les informations d'élément testé acquises correspond au site identifié par l'unité d'identification de site de correspondance de différences (16).