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1. (WO2017199397) DISPOSITIF DE TEST ET PROCÉDÉ DE TEST POUR DISJONCTEUR À COURANT CONTINU
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N° de publication :    WO/2017/199397    N° de la demande internationale :    PCT/JP2016/064901
Date de publication : 23.11.2017 Date de dépôt international : 19.05.2016
CIB :
H02H 3/00 (2006.01)
Déposants : MITSUBISHI ELECTRIC CORPORATION [JP/JP]; 7-3, Marunouchi 2-chome, Chiyoda-ku, Tokyo 1008310 (JP)
Inventeurs : TOKOYODA, Sho; (JP).
INAGAKI, Takashi; (JP).
KAMEI, Kenji; (JP).
TAHATA, Kazuyori; (JP).
MIYASHITA, Makoto; (JP).
KIKUCHI, Kunio; (JP).
ITO, Hiroki; (JP)
Mandataire : TAKAMURA, Jun; (JP)
Données relatives à la priorité :
Titre (EN) TESTING DEVICE AND TESTING METHOD FOR DIRECT-CURRENT CIRCUIT BREAKER
(FR) DISPOSITIF DE TEST ET PROCÉDÉ DE TEST POUR DISJONCTEUR À COURANT CONTINU
(JA) 直流遮断器の試験装置および試験方法
Abrégé : front page image
(EN)The testing device (100) for a direct-current circuit breaker comprises: an alternating-current power source (1) for generating a first test current to be supplied to the direct-current circuit breaker (5) to be tested; a voltage source circuit (10) for generating a second test current to be supplied to the direct-current circuit breaker; and an input switch (9) which is disposed between the voltage source circuit and the direct-current circuit breaker and is in an open state at a point of time at which the first test current begins to flow from the alternating-current power source into the direct-current circuit breaker, and enters a closed state at a predetermined timing after the direct-current circuit breaker has cut off the first test current, thereby connecting the voltage source circuit to the direct-current circuit breaker. When the input switch closes, the voltage source circuit causes a capacitor (13), which has been charged to a voltage higher than a limit voltage of an energy absorption unit (8) of the direct-current circuit breaker, to discharge to generate the second test current.
(FR)L'invention concerne un dispositif de test (100) pour disjoncteur à courant continu, qui comprend : une source d'alimentation en courant alternatif (1) pour générer un premier courant de test à fournir au disjoncteur à courant continu (5) à tester ; un circuit source de tension (10) pour générer un second courant de test à fournir au disjoncteur à courant continu ; et un interrupteur d'entrée (9) qui est disposé entre le circuit source de tension et le disjoncteur à courant continu et qui est dans un état ouvert à un instant auquel le premier courant de test commence à circuler de la source de courant alternatif au disjoncteur à courant continu, et passe dans un état fermé un temps prédéterminé après que le disjoncteur à courant continu a coupé le premier courant de test, connectant ainsi le circuit source de tension au disjoncteur à courant continu. Lorsque l'interrupteur d'entrée se ferme, le circuit source de tension amène un condensateur (13), qui a été chargé à une tension supérieure à une tension limite d'une unité d'absorption d'énergie (8) du disjoncteur à courant continu, à se décharger afin de générer le second courant de test.
(JA)直流遮断器の試験装置(100)は、試験対象の直流遮断器(5)に流す第1の試験電流を生成する交流電源(1)と、直流遮断器に流す第2の試験電流を生成する電圧源回路(10)と、電圧源回路と直流遮断器との間に設けられ、交流電源から直流遮断器に第1の試験電流が流れ始める時点で開状態であり、直流遮断器が第1の試験電流の遮断を実行した後の規定のタイミングで閉状態となり電圧源回路を直流遮断器に接続する投入スイッチ(9)と、を備え、電圧源回路は、投入スイッチが閉じると、直流遮断器が備えているエネルギー吸収ユニット(8)の制限電圧よりも高い電圧まで充電された状態のコンデンサ(13)を放電させて第2の試験電流を生成する。
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)