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1. (WO2017195573) DISPOSITIF DE MESURE DE CARACTÉRISTIQUES OPTIQUES
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N° de publication : WO/2017/195573 N° de la demande internationale : PCT/JP2017/016063
Date de publication : 16.11.2017 Date de dépôt international : 21.04.2017
CIB :
G01J 3/50 (2006.01) ,G01N 21/57 (2006.01)
Déposants : KONICA MINOLTA, INC.[JP/JP]; 2-7-2, Marunouchi, Chiyoda-ku, Tokyo 1007015, JP
Inventeurs : TAKEBE, Yosuke; JP
NOBUMOTO, Yushi; JP
KAWANO, Toshio; JP
Mandataire : KOTANI, Etsuji; JP
KOTANI, Masataka; JP
SAKURAI, Satoshi; JP
Données relatives à la priorité :
2016-09373109.05.2016JP
Titre (EN) OPTICAL CHARACTERISTIC MEASURING DEVICE
(FR) DISPOSITIF DE MESURE DE CARACTÉRISTIQUES OPTIQUES
(JA) 光学特性測定装置
Abrégé : front page image
(EN) An optical characteristic measuring device according to the present invention is provided with: an optical characteristic measuring unit which has a measurement opening and which uses a plurality of optical systems having mutually different geometries to measure a plurality of mutually different optical characteristics of a measured object that faces into the measurement opening; a measured object observation unit for directly observing the measured object facing into the measurement opening; and an observation light source which illuminates the measured object facing into the measurement opening.
(FR) La présente invention concerne un dispositif de mesure de caractéristiques optiques qui est pourvu : d'une unité de mesure de caractéristiques optiques qui comporte une ouverture de mesure et qui utilise une pluralité de systèmes optiques ayant des géométries mutuellement différentes pour mesurer une pluralité de caractéristiques optiques mutuellement différentes d'un objet mesuré qui donne dans l'ouverture de mesure ; d'une unité d'observation d'objet mesuré destinée à observer directement l'objet mesuré donnant dans l'ouverture de mesure ; et d'une source de lumière d'observation qui éclaire l'objet mesuré donnant dans l'ouverture de mesure.
(JA) 本発明にかかる光学特性測定装置は、測定開口を有し、互いに異なるジオメトリの複数の光学系を用いることによって前記測定開口に臨む測定対象における互いに異なる複数の光学特性を測定する光学特性測定部と、前記測定開口に臨む前記測定対象を直接的に観察する測定対象観察部と、前記測定開口に臨む前記測定対象を照明する観察用光源とを備える。
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)