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1. (WO2017195271) SPECTROMÈTRE DE MASSE POUR IMAGERIE
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N° de publication : WO/2017/195271 N° de la demande internationale : PCT/JP2016/063861
Date de publication : 16.11.2017 Date de dépôt international : 10.05.2016
CIB :
G01N 27/62 (2006.01)
Déposants : SHIMADZU CORPORATION[JP/JP]; 1, Nishinokyo-Kuwabara-cho, Nakagyo-ku, Kyoto-shi, Kyoto 6048511, JP
Inventeurs : TAKESHITA, Kengo; JP
Mandataire : KYOTO INTERNATIONAL PATENT LAW OFFICE; Hougen-Sizyokarasuma Building, 37, Motoakuozi-tyo, Higasinotouin Sizyo-sagaru, Simogyo-ku, Kyoto-si, Kyoto 6008091, JP
Données relatives à la priorité :
Titre (EN) IMAGING MASS SPECTROMETER
(FR) SPECTROMÈTRE DE MASSE POUR IMAGERIE
(JA) イメージング質量分析装置
Abrégé : front page image
(EN) In the present invention, after tandem mass spectrometry is carried out for a single precursor ion in each micro area of an area for measurement and data is collected (S1), a plurality of product ions are extracted on the basis of the data (S2). For each product ion m/z, an MS imaging image is created (S3). Hierarchical cluster analysis is carried out on the plurality of MS imaging images, and the product ions are grouped on the basis of image similarity (S4). Product ions having similar distributions, that is, product ions classified into the same group, can be regarded as originating from the same compound. Thus, for each group, the intensity information for the plurality of product ions in each micro area is added (S5), and MS imaging images are created on the basis of the added intensity information (S6). As a result, even if a plurality of compounds overlap with the precursor ion, the effect of that overlapping can be removed, and images with better S/N ratios, sensitivities, and dynamic ranges than MS imaging images for a single product ion can be created and displayed.
(FR) Dans le cadre de la présente invention concerne, après une spectrométrie de masse en tandem effectuée pour un seul ion précurseur dans chaque micro-zone d'une zone de mesure et après recueil de données (S1), une pluralité d'ions produits sont extraits sur la base des données (S2). Pour chaque ion de produit m/z, une image d'imagerie SM est créée (S3). Une analyse de groupe hiérarchique est effectuée sur la pluralité d'images d'imagerie SM, et les ions de produits sont groupés sur la base de la similarité d'images (S4). Les ions de produits ayant des distributions similaires, c'est-à-dire des ions de produits classés dans le même groupe, peuvent être considérés comme provenant du même composé. Ainsi, pour chaque groupe, les informations d'intensité pour la pluralité d'ions de produits dans chaque micro-zone sont ajoutées (S5), et des images d'imagerie SM sont créées sur la base des informations d'intensité ajoutées (S6). En conséquence, même si une pluralité de composés se chevauchent avec l'ion précurseur, l'effet de ce chevauchement peut être éliminé, et des images ayant des rapports S/N, sensibilités et plages dynamiques meilleurs que des images d'imagerie SM pour un seul ion de produit peuvent être créées et affichées.
(JA) 測定対象領域中の微小領域毎に一つのプリカーサイオンに対するMS2分析を実行してデータを収集したあと(S1)、そのデータに基づいて複数のプロダクトイオンを抽出する(S2)。そして、プロダクトイオンのm/z毎にMSイメージング画像を作成する(S3)。その複数のMSイメージング画像に対し階層的クラスタ分析を行って画像の類似性に基づいてプロダクトイオンをグループ分けする(S4)。分布が類似する、つまりは同じグループに区分されたプロダクトイオンは同じ化合物由来であるとみなせるから、グループ毎に複数のプロダクトイオンの強度情報を微小領域毎に加算し(S5)、加算後の強度情報に基づいてMSイメージング画像を作成する(S6)。これにより、プリカーサイオンに複数の化合物が重なっている場合であっても、その重なりの影響を排除し、一つのプロダクトイオンにおけるMSイメージング画像に比べてSN比や感度、Dレンジが良好な画像を作成し表示することができる。
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)