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1. (WO2017193763) PROCÉDÉ, APPAREIL ET SYSTÈME D’ESSAI
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N° de publication : WO/2017/193763 N° de la demande internationale : PCT/CN2017/080469
Date de publication : 16.11.2017 Date de dépôt international : 13.04.2017
CIB :
G01D 21/00 (2006.01)
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
D
MESURE NON SPÉCIALEMENT ADAPTÉE À UNE VARIABLE PARTICULIÈRE; DISPOSITIONS NON COUVERTES PAR UNE SEULE DES AUTRES SOUS-CLASSES POUR MESURER PLUSIEURS VARIABLES; APPAREILS COMPTEURS À TARIFS; DISPOSITIONS POUR LE TRANSFERT OU LA TRANSDUCTION DE MESURE NON SPÉCIALEMENT ADAPTÉES À UNE VARIABLE PARTICULIÈRE; MESURES OU VÉRIFICATIONS NON PRÉVUES AILLEURS
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Mesures ou vérifications non prévues ailleurs
Déposants :
中兴通讯股份有限公司 ZTE CORPORATION [CN/CN]; 中国广东省深圳市 南山区高新技术产业园科技南路中兴通讯大厦 ZTE Plaza Keji Road South, Hi-Tech Industrial Park, Nanshan District Shenzhen, Guangdong 518057, CN
Inventeurs :
王坚 WANG, Jian; CN
骆毅 LUO, Yi; CN
孙琼华 SUN, Qionghua; CN
Mandataire :
北京康信知识产权代理有限责任公司 KANGXIN PARTNERS,P.C.; 中国北京市 海淀区知春路甲48号盈都大厦A座16层 Floor 16, Tower A, Indo Building A48 Zhichun Road, Haidian District Beijing 100098, CN
Données relatives à la priorité :
201610309118.110.05.2016CN
Titre (EN) TESTING METHOD, APPARATUS AND SYSTEM
(FR) PROCÉDÉ, APPAREIL ET SYSTÈME D’ESSAI
(ZH) 一种检测方法、装置及系统
Abrégé :
(EN) A testing method, comprising: first determining a to-be-tested object (S101); invoking parameter information corresponding to the to-be-tested object from a database (S102); and finally testing the to-be-tested object according to the parameter information to obtain a testing result (S103). Provided that a device to be tested is determined, online quick troubleshooting can be carried out on the device, and the property of a fault of the device to be tested can be determined, without considering different protocols, different interfaces of manufacturers, and software and hardware tools, so that there is no need for operation and maintenance staff to spend much energy studying interface protocols of the device and use methods of testing tools of the corresponding manufacturers. The troubleshooting efficiency is improved and the operation complexity is also reduced for operation and maintenance staff. Also disclosed is a detection apparatus and system.
(FR) La présente invention concerne un procédé d’essai comprend : dans un premier temps, la détermination d’un objet à tester (S101) ; la demande d’informations de paramètre correspondant à l'objet à tester à partir d'une base de données (S102) ; et enfin, l’essai de l'objet à tester en fonction des informations de paramètre pour obtenir un résultat d’essai (S103). Dans la mesure où un dispositif à tester est déterminé, un dépannage rapide en ligne peut être effectué sur le dispositif, et la propriété d'un défaut du dispositif à tester peut être déterminée, sans prendre en compte différents protocoles, différentes interfaces de fabricants, et outils logiciels et matériels, de sorte qu'il ne soit pas nécessaire de faire appel au personnel d’exploitation et de maintenance pour consacrer des efforts importants à l'étude des protocoles d'interface du dispositif et d’utiliser des procédés d'essai d'outils des fabricants correspondants. L'efficacité de dépannage est améliorée et la complexité opérationnelle est également réduite pour le personnel d’exploitation et de maintenance. L’invention concerne en outre un appareil et un système de détection.
(ZH) 一种检测方法,先确定待检测对象(S101),再从数据库中调用待检测对象对应的参数信息(S102),最后根据该参数信息对待检测对象进行检测,并获取检测结果(S103)。只需确定好待检测设备,就可快速在线对设备进行故障排查,调试检测设备的故障性质,同时也屏蔽了各个协议、各个厂家的不同接口和软硬件工具,不需要运维人员再花费大量精力关注设备接口协议和对应厂家检测工具使用方法,在提高故障排查效率的同时,也降低了运维人员的操作复杂度。还公开了一种检测装置及系统。
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États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Langue de publication : chinois (ZH)
Langue de dépôt : chinois (ZH)