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1. (WO2017189496) PROCÉDÉ DE MICROSCOPIE PAR FLUORESCENCE À SUPER-RÉSOLUTION UTILISANT DES MARQUEURS DE COMPENSATION DE DÉRIVE AMÉLIORÉS
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international    Formuler une observation

N° de publication :    WO/2017/189496    N° de la demande internationale :    PCT/US2017/029276
Date de publication : 02.11.2017 Date de dépôt international : 25.04.2017
CIB :
G01N 21/64 (2006.01), B82Y 15/00 (2011.01), B82Y 20/00 (2011.01), B82Y 30/00 (2011.01)
Déposants : ULTIVUE, INC. [US/US]; 763D Concord Avenue Cambridge, Massachusetts 02138-1044 (US)
Inventeurs : NATAN, Michael Jules; (US).
WALTER, Stephanie Rae; (US).
MANESSE, Mael; (US)
Mandataire : MCNEILL, Rebecca; (US).
BAUR, Amelia; (US).
SCARR, Rebecca; (US).
DOHERTY, Elizabeth; (US).
HENNINGER, Mary; (US).
BREIER, Adam; (US).
HERZFELD, Deborah; (US).
PRYBYLOWSKI, Kate; (US).
LEE, Victoria; (US)
Données relatives à la priorité :
62/327,570 26.04.2016 US
Titre (EN) SUPER-RESOLUTION FLUORESCENCE MISCROSCOPY METHOD USING IMPROVED DRIFT COMPENSATION MARKERS
(FR) PROCÉDÉ DE MICROSCOPIE PAR FLUORESCENCE À SUPER-RÉSOLUTION UTILISANT DES MARQUEURS DE COMPENSATION DE DÉRIVE AMÉLIORÉS
Abrégé : front page image
(EN)A super-resolution fluorescence microscopy method comprises (a) providing a drift compensation marker, wherein (i) the drift compensation marker comprises a coated plasmonic particle; (ii) the drift compensation marker comprises an anisotropic plasmonic particle; and/or (iii) the drift compensation marker comprises a plasmonic particle comprising at least one reporter molecule on the surface of the plasmonic particle or on the surface of a coating; (b) performing super-resolution fluorescence microscopy; (c) using the drift compensation marker to improve the resolution of the super-resolution fluorescence microscopy. A super-resolution fluorescence microscopy method alternatively comprises (a) providing a drift compensation marker comprising a nonplasmonic Raman-active particle and wherein optionally the drift compensation marker comprises a coated nonplasmonic Raman- active particle and/or optionally the drift compensation marker comprises an anisotropic nonplasmonic Raman-active particle; (b) performing super-resolution fluorescence microscopy; (c) using the drift compensation marker to improve the resolution of the super-resolution fluorescence microscopy.
(FR)L'invention concerne un procédé de microscopie par fluorescence à super-résolution qui consiste à (a) fournir un marqueur de compensation de dérive, (i) le marqueur de compensation de dérive comprenant une particule plasmonique revêtue ; (ii) le marqueur de compensation de dérive comprenant une particule plasmonique anisotrope ; et/ou (iii) le marqueur de compensation de dérive comprenant une particule plasmonique comprenant au moins une molécule rapporteuse sur la surface de la particule plasmonique ou sur la surface d'un revêtement ; (b) effectuer une microscopie par fluorescence à super-résolution ; (c) utiliser le marqueur de compensation de dérive pour améliorer la résolution de la microscopie par fluorescence à super-résolution. Un procédé de microscopie par fluorescence à super-résolution consiste sinon à (a) fournir un marqueur de compensation de dérive comprenant une particule non plasmonique active en Raman et le marqueur de compensation de dérive comprenant facultativement une particule non plasmonique revêtue active en Raman et/ou le marqueur de compensation de dérive comprenant facultativement une particule non plasmonique anisotrope active en Raman ; (b) effectuer une microscopie par fluorescence à super-résolution ; (c) utiliser le marqueur de compensation de dérive pour améliorer la résolution de la microscopie par fluorescence à super-résolution.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)