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1. (WO2017184098) SONDE POUR MICROSCOPE À FORCE ATOMIQUE
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N° de publication : WO/2017/184098 N° de la demande internationale : PCT/TR2017/050153
Date de publication : 26.10.2017 Date de dépôt international : 20.04.2017
CIB :
G01Q 60/42 (2010.01) ,G01Q 70/14 (2010.01) ,G01Q 70/10 (2010.01)
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
Q
TECHNIQUES OU APPAREILS À SONDE À BALAYAGE; APPLICATIONS DES TECHNIQUES DE SONDE À BALAYAGE, p.ex. MICROSCOPIE À SONDE À BALAYAGE [SPM]
60
Types particuliers de microscopie à sonde à balayage SPM [Scanning-Probe Microscopy] ou appareils à cet effet; Composants essentiels de ceux-ci
24
Microscopie à forces atomiques AFM [Atomic Force Microscopy] ou appareils à cet effet, p.ex. sondes AFM
38
Sondes, leur fabrication ou leur instrumentation correspondante, p.ex. supports
42
Fonctionnalisation
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
Q
TECHNIQUES OU APPAREILS À SONDE À BALAYAGE; APPLICATIONS DES TECHNIQUES DE SONDE À BALAYAGE, p.ex. MICROSCOPIE À SONDE À BALAYAGE [SPM]
70
Aspects généraux des sondes SPM, leur fabrication ou leur instrumentation correspondante, dans la mesure où ces sondes ne sont pas spécialement adaptées à une seule technique SPM couverte par le groupe G01Q60/230
08
Caractéristiques des sondes
14
Matériaux particuliers
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
Q
TECHNIQUES OU APPAREILS À SONDE À BALAYAGE; APPLICATIONS DES TECHNIQUES DE SONDE À BALAYAGE, p.ex. MICROSCOPIE À SONDE À BALAYAGE [SPM]
70
Aspects généraux des sondes SPM, leur fabrication ou leur instrumentation correspondante, dans la mesure où ces sondes ne sont pas spécialement adaptées à une seule technique SPM couverte par le groupe G01Q60/230
08
Caractéristiques des sondes
10
Forme ou cônicité
Déposants :
OKYAY ENERJI AR-GE MUHENDISLIK TICARET VE SANAYI LIMITED SIRKETI [TR/TR]; Bilkent Cyberpark, Cyberplaza B Blok Kat. 2 No: B208 Cankaya/Ankara, TR
Inventeurs :
DANA, Aykutlu; TR
Mandataire :
ABACIOGLU VISKUSENKO, Melis; TR
Données relatives à la priorité :
2016/0512720.04.2016TR
Titre (EN) A PROBE FOR ATOMIC FORCE MICROSCOPE WITH AN OLEOPHOBIC AND HYDROPHOBIC COATING
(FR) SONDE POUR MICROSCOPE À FORCE ATOMIQUE
Abrégé :
(EN) The present invention relates to an atomic force microscope probe that will be used for the examination of biological samples. With the present invention, a probe consisting of a sharp core and a coating on this core has been developed. The coating exhibits oleophobic and hydrophobic properties. With the probe developed with the present invention, measurements can also be made on the surfaces of drips, such as water or oil droplets, or dropelts of solutions comprising both of them.
(FR) La présente invention concerne une sonde pour microscope à force atomique destinée à être utilisée pour l'examen d'échantillons biologiques. Selon la présente invention, cette sonde comprend une partie centrale à angle aigu sur laquelle a été appliqué un revêtement. Ce revêtement présente des propriétés oléophobes et hydrophobes. La sonde mise au point selon la présente invention permet d'effectuer également des mesures sur des surfaces de gouttes, telles que des gouttelettes d'eau ou d'huile, ou des gouttelettes de solutions comprenant les deux.
front page image
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : ???LANGUAGE_SYMBOL_TR??? (TR)