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1. (WO2017182107) PROCÉDÉ ET DISPOSITIF DE MESURE DE LA PROFONDEUR DU CAPILLAIRE DE VAPEUR PENDANT UN PROCESSUS D'USINAGE PAR FAISCEAU À HAUTE ÉNERGIE
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N° de publication :    WO/2017/182107    N° de la demande internationale :    PCT/EP2016/075112
Date de publication : 26.10.2017 Date de dépôt international : 19.10.2016
CIB :
G01B 9/02 (2006.01), G01B 11/22 (2006.01), B23K 26/03 (2006.01), B23K 26/04 (2014.01), B23K 26/06 (2014.01), B23K 26/08 (2014.01), B23K 26/21 (2014.01)
Déposants : PRECITEC OPTRONIK GMBH [DE/DE]; Schleussnerstr. 54 63263 Neu-Isenburg (DE)
Inventeurs : SCHÖNLEBER, Martin; (DE).
DIETZ, Christoph; (DE)
Mandataire : OSTERTAG & PARTNER PATENTANWÄLTE MBB; Epplestraße 14 70597 Stuttgart (DE)
Données relatives à la priorité :
10 2016 005 021.7 22.04.2016 DE
Titre (DE) VERFAHREN UND VORRICHTUNG ZUR MESSUNG DER TIEFE DER DAMPFKAPILLARE WÄHREND EINES BEARBEITUNGSPROZESSES MIT EINEM HOCHENERGIESTRAHL
(EN) METHOD AND DEVICE FOR MEASURING THE DEPTH OF THE VAPOUR CAVITY DURING A MACHINING PROCESS WITH A HIGH-ENERGY BEAM
(FR) PROCÉDÉ ET DISPOSITIF DE MESURE DE LA PROFONDEUR DU CAPILLAIRE DE VAPEUR PENDANT UN PROCESSUS D'USINAGE PAR FAISCEAU À HAUTE ÉNERGIE
Abrégé : front page image
(DE)Bei einem Verfahren zur Messung der Tiefe der Dampfkapillare (88) während eines industriellen Bearbeitungsprozesses mit einem Hochenergiestrahl (19) wird ein optischer Messstrahl (70a) auf den Boden einer Dampfkapillare (88)gerichtet. Aus Reflexen des Messstrahls (70a) erzeugt ein optischer Kohärenztomograph (40) Interferenzspektren oder andere Roh-Messdaten. Eine Auswerteinrichtung (114) erzeugt entstörte Messdaten, indem Roh-Messdaten, die zu unterschiedlichen Zeitpunkten erzeugt wurden, im Wege einer mathematischen Operation gemeinsam verarbeitet werden. Bei dieser Operation kann es sich insbesondere um eine Subtraktion oder eine Division handeln. Dadurch lassen sich langsam verändernde Störeinflüsse eliminieren. Aus den entstörten Messdaten wird mit Hilfe eines Filters, z.B. eines Quantil-Filters, ein Endwert für den Abstand (a1) zum Boden der Dampfkapillare (88) berechnet. Daraus lässt sich in Kenntnis des Abstands zu einem Teil der Oberfläche (91) des Werkstücks (24), der nicht dem Hochenergiestrahl (19) ausgesetzt ist, die Tiefe der Dampfkapillare (88) bestimmen.
(EN)In a method for measuring the depth of the vapour cavity (88) during an industrial machining process with a high-energy beam (19), an optical measuring beam (70a) is directed towards the base of a vapour cavity (88). An optical coherence tomograph (40) generates interference factors or other raw measurement data from reflections of the measurement beam (70a). An evaluation device (114) generates interference-suppressed measurement data, wherein raw measurement data, that is generated at different times, is processed together in the course of a mathematical operation. This operation can be, in particular, a subtraction or a division. In this way, slowly changing interference factors can be eliminated. An end value for the distance (a1) to the base of the vapour cavity (88) is calculated from the interference-suppressed measurement data using a filter, e.g. a quantile filter. As a result, the depth of the vapour cavity (88) can be determined, in the knowledge of the distance at a part of the surface (91) of the work piece (24) that is not exposed to the high-energy beam (19).
(FR)L'invention concerne un procédé de mesure de la profondeur du capillaire de vapeur (88) pendant un processus industriel d'usinage par faisceau à haute énergie (19), un faisceau de mesure optique (70a) étant dirigé vers le fond d'un capillaire de vapeur (88). Un tomographe (40) de tomographie par cohérence optique produit des spectres d'interférence ou autres données de mesure brutes à partir des réflexions du faisceau de mesure (70a). Un dispositif d'évaluation (114) produit des données de mesure déparasitées, les données de mesure brutes qui ont été produites à différents instants étant traitées ensemble au moyen d'une opération mathématique. Cette opération peut en particulier être une soustraction ou une division. Il est ainsi possible d'éliminer des phénomènes parasites variant lentement. À partir des données de mesure déparasitées, une valeur finale de la distance (a1) par rapport au fond du capillaire de vapeur (88) est calculée au moyen d'un filtre, par exemple un filtre de quantiles. Connaissant la distance par rapport à une partie de la surface (91) de la pièce (24) qui n'est pas soumise au faisceau à haute énergie (19), il est possible de déterminer la profondeur du capillaire de vapeur (88).
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : allemand (DE)
Langue de dépôt : allemand (DE)