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1. (WO2017181839) SYSTÈME ET PROCÉDÉ D'ÉTALONNAGE DE PARAMÈTRE D'APPAREIL POUR PHOTOGRAPHIE PANORAMIQUE
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N° de publication :    WO/2017/181839    N° de la demande internationale :    PCT/CN2017/079094
Date de publication : 26.10.2017 Date de dépôt international : 31.03.2017
CIB :
G06T 7/00 (2017.01)
Déposants : SHENZHEN PISOFTTECH TECHNOLOGY CO., LTD. [CN/CN]; Building C11-B, E City, TCL Science Park No.1001 Zhongshanyuan Road Shenzhen, Guangdong 518000 (CN)
Inventeurs : LIU, Yahui; (CN).
SHENG, Jingcheng; (CN).
WANG, Shibo; (CN).
WANG, Chao; (CN)
Mandataire : SHENZHEN ZHONGYI UNION INTELLECTUAL PROPERTY AGENCY CO.,LTD.; 9/F (PO. Box No.5), Baochun Building No. 1014 Shennan Middle Road, Yuanling Street, Futian District Shenzhen, Guangdong 518000 (CN)
Données relatives à la priorité :
201610249486.1 21.04.2016 CN
Titre (EN) SYSTEM AND METHOD OF CALIBRATING APPARATUS PARAMETER FOR PANORAMIC PHOTOGRAPHY
(FR) SYSTÈME ET PROCÉDÉ D'ÉTALONNAGE DE PARAMÈTRE D'APPAREIL POUR PHOTOGRAPHIE PANORAMIQUE
(ZH) 一种用于全景拍摄设备参数的标定系统及方法
Abrégé : front page image
(EN)A system and method of calibrating an apparatus parameter for panoramic photography. The system comprises an image acquisition module (1), a parameter computation module (2) connected to the image acquisition module (1), and a data analysis module (3) connected to the parameter computation module (2). The image acquisition module (1) is used to issue a command to enable N cameras of a panoramic photographic apparatus to synchronously and consecutively acquire M sets of images, and store the same. The parameter computation module (2) is used to read, from the image acquisition module (1) and according an order, the M sets of images, process the same to obtain M corresponding apparatus parameters, and store the same. The data analysis module (3) is used to analyze the M corresponding apparatus parameters to obtain an optimal calibration parameter, and store the same. Therefore, the embodiment can implement automatic calibration of an apparatus parameter for panoramic photography, significantly simplify a parameter calibration operation process and reduces dependence on a calibration apparatus, enhancing flexibility and robustness of the apparatus, and increasing accuracy of panoramic image stitching.
(FR)L'invention concerne un système et un procédé d'étalonnage d'un paramètre d'appareil pour la photographie panoramique. Ledit système comprend un module d'acquisition d'images (1), un module de calcul de paramètres (2) connecté au module d'acquisition d'images (1), et un module d'analyse de données (3) connecté au module de calcul de paramètres (2). Le module d'acquisition d'images (1) sert à émettre une instruction pour permettre à N dispositifs de prise de vues d'un appareil photographique panoramique d'acquérir de façon synchrone et consécutive M ensembles d'images, et de les mémoriser. Le module de calcul de paramètres (2) sert à lire dans un ordre les M ensembles d'images à partir du module d'acquisition d'images (1), à les traiter pour obtenir M paramètres d'appareil correspondants, et à les mémoriser. Le module d'analyse de données (3) sert à analyser les M paramètres d'appareil correspondants pour obtenir un paramètre d'étalonnage optimal, et à le mémoriser. Par conséquent, le mode de réalisation peut mettre en œuvre un étalonnage automatique d'un paramètre d'appareil pour la photographie panoramique, simplifier considérablement le déroulement d'une opération d'étalonnage de paramètre, et réduire la dépendance à un appareil d'étalonnage, améliorant ainsi la flexibilité et la robustesse de l'appareil ainsi que la précision de l'assemblage d'image panoramique.
(ZH)一种用于全景拍摄设备参数的标定系统及方法,包括图像采集模块(1)、与图像采集模块(1)连接的参数解算模块(2)、及与参数解算模块(2)连接的数据分析模块(3);图像采集模块(1)用于发出指令使全景拍摄设备的N个相机同步地、连续地采集M组图像并存储;参数解算模块(2)用于从图像采集模块(1)中按顺序读取出M组图像并处理,得到M个对应的设备参数并存储;数据分析模块(3)用于对M个对应的设备参数进行数据分析,得到标定参数的最优解并存储。这样,可实现对全景拍摄设备参数的全自动标定,可以大大简化参数标定的操作流程和减小对标定设备的依赖,对于增强设备的灵活性、鲁棒性及提高全景拼接的准确性,意义重大。
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : chinois (ZH)
Langue de dépôt : chinois (ZH)