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1. (WO2017181724) PROCÉDÉ ET SYSTÈME DE CONTRÔLE DE VÉRIFICATION D'UN COMPOSANT ÉLECTRONIQUE MANQUANT
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N° de publication :    WO/2017/181724    N° de la demande internationale :    PCT/CN2016/112888
Date de publication : 26.10.2017 Date de dépôt international : 29.12.2016
CIB :
G06T 7/00 (2017.01), G01N 21/88 (2006.01), G01N 21/95 (2006.01)
Déposants : GUANGZHOU SHIYUAN ELECTRONICS CO., LTD. [CN/CN]; No.6, 4th Yunpu Road, Huangpu District Guangzhou, Guangdong 510530 (CN)
Inventeurs : LIN, Jianmin; (CN)
Mandataire : ADVANCE CHINA IP LAW OFFICE; Room 3901, No. 85 Huacheng Avenue Tianhe District Guangzhou, Guangdong 510623 (CN)
Données relatives à la priorité :
201610251817.5 20.04.2016 CN
Titre (EN) INSPECTION METHOD AND SYSTEM FOR MISSING ELECTRONIC COMPONENT
(FR) PROCÉDÉ ET SYSTÈME DE CONTRÔLE DE VÉRIFICATION D'UN COMPOSANT ÉLECTRONIQUE MANQUANT
(ZH) 电子元件漏件检测方法和系统
Abrégé : front page image
(EN)An inspection method and system for a missing electronic component. The method comprises the following steps: performing image edge extraction respectively on an acquired template image and test image of a circuit board having electronic components, so as to obtain a first edge image and second edge image (S101); partitioning the first and second edge images respectively into regions, and extracting features of the regions of the first and second edge images to obtain a first feature parameter of the template image and a second feature parameter of the test image (S102); calculating, according to the first feature parameter and the second feature parameter, a similarity value between the template image and the test image (S103); and performing, according to the similarity value, an inspection for a missing electronic component on the circuit board (S104). The method and system of the present invention effectively increase accuracy of inspection for a missing electronic component, thus ensuring quality of inspected circuit boards.
(FR)L'invention concerne un procédé et un système de contrôle de vérification d'un composant électronique manquant. Le procédé consiste: à effectuer une extraction de contour d'image, respectivement sur une image modèle acquise et une image test d'une carte de circuit imprimé comportant des composants électroniques, de manière à obtenir une première image de contour et une seconde image de contour (S101); à diviser en zones les première et seconde images de contour respectivement, et à extraire des caractéristiques des zones des première et seconde images de contour pour obtenir un premier paramètre de caractéristiques de l'image modèle et un second paramètre de caractéristiques de l'image test (S102); à calculer, selon le premier paramètre de caractéristiques et le second paramètre de caractéristiques, une valeur de similarité entre l'image modèle et l'image test (S103); et à effectuer, selon la valeur de similarité, un contrôle de vérification d'un composant électronique manquant sur la carte de circuit imprimé (S104). Le procédé et le système de l'invention augmentent efficacement la précision de contrôle de vérification d'un composant électronique manquant, assurant ainsi la qualité des cartes de circuit imprimé inspectées.
(ZH)一种电子元件漏件检测方法和系统,其中,所述方法包括如下步骤:对获取的电子元件的电路板的模板图像和测试图像分别进行边缘图像提取,得到第一边缘图像和第二边缘图像(S101);对所述第一边缘图像和第二边缘图像分别进行分区,并对各个分区上的第一边缘图像和第二边缘图像进行特征提取,得到模板图像的第一特征参数和测试图像的第二特征参数(S102);根据第一特征参数和第二特征参数计算所述模板图像与测试图像的相似度值(S103);根据所述相似度值对电路板进行电子元件漏件检测(S104)。该方法和系统,通过有效地提高了电子元件漏件检测的准确率,保证了检测后的电路板的质量。
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : chinois (ZH)
Langue de dépôt : chinois (ZH)