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1. (WO2017178190) PROCÉDÉ ET SYSTÈME DE DÉTERMINATION D'UNE POSITION GLOBALE D'UN PREMIER REPÈRE
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N° de publication :    WO/2017/178190    N° de la demande internationale :    PCT/EP2017/056380
Date de publication : 19.10.2017 Date de dépôt international : 17.03.2017
CIB :
G01C 21/32 (2006.01), G05D 1/02 (2006.01)
Déposants : VOLKSWAGEN AKTIENGESELLSCHAFT [DE/DE]; Berliner Ring 2 38440 Wolfsburg (DE)
Inventeurs : MERFELS, Christian; (DE).
KEKEC, Ugur; (DE)
Données relatives à la priorité :
10 2016 205 964.5 11.04.2016 DE
Titre (DE) VERFAHREN UND SYSTEM ZUM BESTIMMEN EINER GLOBALEN POSITION EINER ERSTEN LANDMARKE
(EN) METHOD AND SYSTEM FOR DETERMINING A GLOBAL POSITION OF A FIRST LANDMARK
(FR) PROCÉDÉ ET SYSTÈME DE DÉTERMINATION D'UNE POSITION GLOBALE D'UN PREMIER REPÈRE
Abrégé : front page image
(DE)Die vorliegende Erfindung betrifft ein Verfahren zum Bestimmen einer globalen Position einer ersten Landmarke (21c), wobei zumindest ein erster und ein zweiter Vermessungsdatensatz erfasst werden. Dabei sind dem ersten Vermessungsdatensatz ein erster Referenzpunkt und ein erster Erfassungsraum (20a) sowie dem zweiten Vermessungsdatensatz ein zweiter Referenzpunkt und ein zweiter Erfassungsraum (20b) zugeordnet. Ferner wird die erste Landmarke (21c) in dem ersten (20a) und zweiten Erfassungsraum (20b) detektiert, während eine zweite Landmarke (21a, 21b) in dem ersten Erfassungsraum (20a) detektiert wird. Anhand des ersten Vermessungsdatensatzes werden erste Relativpositionen (22a, 22b, 22c) der ersten (21c) und der zweiten Landmarke (21a, 21b) relativ zu dem Referenzpunkt des ersten Erfassungsraums (20a) bestimmt. Anhand des zweiten Vermessungsdatensatzes wird eine zweite Relativposition (23c) der ersten Landmarke (21c) relativ zu dem Referenzpunkt des zweiten Erfassungsraums (20b) bestimmt. Anhand des ersten Vermessungsdatensatzes wird anschließend eine räumliche Korrelation der ersten (21c) und zweiten Landmarke (21a, 21b) zueinander bestimmt. Schließlich wird anhand der bestimmten ersten (22c) und zweiten Relativposition (23c) der ersten Landmarke (21c), anhand der bestimmten ersten Relativposition (22a, 22b) der zweiten Landmarke (21a, 21b) und anhand der bestimmten räumlichen Korrelation die globale Position der ersten Landmarke (21c) bezüglich eines globalen Referenzpunktes bestimmt. Die Erfindung betrifft ferner ein System zum Bestimmen einer globalen Position einer ersten Landmarke.
(EN)The invention relates to a method for determining a global position of a first landmark (21c), wherein at least a first and a second measurement data set are captured. A first reference point and a first sensing space (20a) are associated with the first measurement data set, and a second reference point and a second sensing space (20b) are associated with the second measurement data set. Furthermore, the first landmark (21c) is detected in the first sensing space (20a) and the second sensing space (20b), while a second landmark (21a, 21b) is detected in the first sensing space (20a). First relative positions (22a, 22b, 22c) of the first landmark (21c) and of the second landmark (21a, 21b) in relation to the reference point of the first sensing space (20a) are determined on the basis of the first measurement data set. A second relative position (23c) of the first landmark (21c) in relation to the reference point of the second sensing space (20b) is determined on the basis of the second measurement data set. A spatial correlation between the first landmark (21c) and the second landmark (21a, 21b) is then determined on the basis of the first measurement data set. Finally, the global position of the first landmark (21c) in relation to a global reference point is determined on the basis of the determined first relative position (22c) and second relative position (23c) of the first landmark (21c), on the basis of the determined first relative position (22a, 22b) of the second landmark (21a, 21b), and on the basis of the determined spatial correlation. The invention further relates to a system for determining a global position of a first landmark.
(FR)La présente invention concerne un procédé de détermination d'une position globale d'un premier repère (21c), au moins un premier et un deuxième ensemble de données de mesure étant détectés. Selon l'invention, un premier point de référence et un premier espace de détection (20a) sont associés au premier ensemble de données de mesure et un deuxième point de référence et un deuxième espace de détection (20b) sont associés au deuxième ensemble de données de mesure. En outre, le premier repère (21c) est détecté dans le premier (20a) et le deuxième espace de détection (20b) tandis qu'un deuxième repère (21a, 21b) est détecté dans le premier espace de détection (20a). À l'aide du premier ensemble de données de mesure, des premières positions relatives (22a, 22b, 22c) du premier (21c) et du deuxième repère (21a, 21b) par rapport au point de référence du premier espace de détection (20a) sont déterminées. À l'aide du deuxième ensemble de données de mesure, une deuxième position relative (23c) du premier repère (21c) par rapport au point de référence du deuxième espace de détection (20b) est déterminée. À l'aide du premier ensemble de données de mesure, une corrélation spatiale du premier (21c) et du deuxième repère (21a, 21b) l'un par rapport à l'autre est ensuite déterminée. Enfin, à l'aide de la première (22c) et de la deuxième position relative (23c) déterminées du premier repère (21c), à l'aide de la première position relative (22a, 22b) déterminée du deuxième repère (21a, 21b) et à l'aide de la corrélation spatiale déterminée, la position globale du premier repère (21c) par rapport à un point de référence global est déterminée. L'invention concerne en outre un système de détermination d'une position globale d'un premier repère.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : allemand (DE)
Langue de dépôt : allemand (DE)