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1. (WO2017175795) DISPOSITIF DE MESURE DE FACTEUR DE DIFFUSION THERMIQUE, PROCÉDÉ DE MESURE DE FACTEUR DE DIFFUSION THERMIQUE ET PROGRAMME
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international    Formuler une observation

N° de publication :    WO/2017/175795    N° de la demande internationale :    PCT/JP2017/014223
Date de publication : 12.10.2017 Date de dépôt international : 05.04.2017
CIB :
G01N 25/18 (2006.01)
Déposants : BETEL CO. LTD. [JP/JP]; 9-3 Yamato-Cho, Tsuchiura-Shi, Ibaraki 3000036 (JP).
NATIONAL UNIVERSITY CORPORATION NAGOYA UNIVERSITY [JP/JP]; 1, Furo-cho, Chikusa-ku, Nagoya-shi, Aichi 4648601 (JP)
Inventeurs : AWANO Takaaki; (JP).
HATORI Kimihito; (JP).
SEKINE Makoto; (JP).
KUBOTA Takahiko; (JP).
NAGANO Hosei; (JP).
FUJITA Ryohei; (JP)
Mandataire : IP-FOCUS PATENT OFFICE; SHINJUKU SEVEN BLDG.8F,2-8-1,Shinjuku,Shinjuku-ku,Tokyo 1600022 (JP)
Données relatives à la priorité :
2016-076616 06.04.2016 JP
Titre (EN) THERMAL DIFFUSION FACTOR MEASUREMENT DEVICE, THERMAL DIFFUSION FACTOR MEASUREMENT METHOD AND PROGRAM
(FR) DISPOSITIF DE MESURE DE FACTEUR DE DIFFUSION THERMIQUE, PROCÉDÉ DE MESURE DE FACTEUR DE DIFFUSION THERMIQUE ET PROGRAMME
(JA) 熱拡散率測定装置、熱拡散率測定方法およびプログラム
Abrégé : front page image
(EN)[Problem] To provide a thermal diffusion factor measurement device, a thermal diffusion factor measurement method and a program capable of measuring thermal diffusion with high accuracy, even when an object to be measured has anisotropy in which thermal diffusion factors differ greatly between the in-plane direction and the thickness direction, and a thick thickness. [Solution] In a thermal diffusion factor measurement method, a heating location H on a tabular sample is made to generate periodically varying thermal waves and the thermal waves at a detection location S on the sample are detected by a non-contact temperature sensor. In addition, the phase delay of the thermal waves at the detection location S are detected in consideration of a detection sensitivity distribution DS of the non-contact temperature sensor and the thermal diffusion factor in the in-plane direction of the sample is measured using the phase delay.
(FR)[Problème] Fournir un dispositif de mesure de facteur de diffusion thermique, un procédé de mesure de facteur de diffusion thermique et un programme capables de mesurer une diffusion thermique avec une précision élevée, même lorsqu'un objet à mesurer a une anisotropie dans laquelle des facteurs de diffusion thermique diffèrent considérablement entre la direction dans le plan et la direction de l'épaisseur, et une épaisseur élevée. [Solution] La présente invention concerne un procédé de mesure de facteur de diffusion thermique, dans lequel un emplacement de chauffage H sur un échantillon tabulaire est amené à générer périodiquement des ondes thermiques variables et les ondes thermiques à un emplacement de détection S sur l'échantillon sont détectées par un capteur de température sans contact. En outre, le retard de phase des ondes thermiques à l'emplacement de détection S est détecté en tenant compte d'une distribution de sensibilité de détection DS du capteur de température sans contact et le facteur de diffusion thermique dans la direction dans le plan de l'échantillon est mesuré au moyen du retard de phase.
(JA)【課題】面内方向と厚み方向との熱拡散率が大きく異なる異方性を有し、且つ厚みの厚い測定対象物であっても、高い精度で熱拡散率を測定することができる熱拡散率測定装置、熱拡散率測定方法およびプログラムを提供する。 【解決手段】熱拡散率測定方法において、平板状の試料の加熱箇所Hにおいて周期的に変化する温度波を生じさせるとともに、非接触温度センサにより試料の検出箇所Sにおいて温度波を検出する。そして、非接触温度センサの検出感度分布DSを考慮して検出箇所Sの温度波の位相遅れを検出し、この位相遅れを用いて試料の面内方向の熱拡散率を測定する。
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)