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1. (WO2017175494) SYSTÈME D'IMAGE DE DIAGNOSTIC
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N° de publication : WO/2017/175494 N° de la demande internationale : PCT/JP2017/006219
Date de publication : 12.10.2017 Date de dépôt international : 20.02.2017
CIB :
A61B 6/00 (2006.01)
Déposants : SHIMADZU CORPORATION[JP/JP]; 1, Nishinokyo-Kuwabara-cho, Nakagyo-ku, Kyoto-shi, Kyoto 6048511, JP
Inventeurs : OKUNO, Tomoharu; JP
KANAZAWA, Shinsuke; JP
NOTOHARA, Daisuke; JP
MORI, Kazuhiro; JP
Mandataire : MIYAZONO, Hirokazu; JP
Données relatives à la priorité :
PCT/JP2016/06117005.04.2016JP
Titre (EN) DIAGNOSTIC IMAGE SYSTEM
(FR) SYSTÈME D'IMAGE DE DIAGNOSTIC
(JA) 診断画像システム
Abrégé : front page image
(EN) This diagnostic image system (100) is provided with: an acquiring means (50) that acquires diagnostic images (40) of a subject (T); and an associating means (60) that associates information (42), which specifies a specimen sample collected from the subject, with a diagnostic image which is among the diagnostic images acquired by the acquiring means and which enables identification of a collection position at which the specimen sample is collected from the subject.
(FR) La présente invention concerne un système d'image de diagnostic (100) comportant : un moyen d'acquisition (50) qui acquiert des images de diagnostic (40) d'un sujet (T) ; et un moyen d'association (60) qui associe des informations (42), qui spécifient un échantillon collecté à partir du sujet, avec une image de diagnostic qui se trouve parmi les images de diagnostic acquises par le moyen d'acquisition et qui permet l'identification d'une position de collecte au niveau de laquelle l'échantillon est collecté à partir du sujet.
(JA) この診断画像システム(100)は、被検体(T)の診断画像(40)を取得する取得手段(50)と、取得手段により取得された診断画像のうち、被検体から検体試料が採取される際の採取位置を識別可能な診断画像と、被検体から採取された検体試料を特定する情報(42)とを関連付ける関連付け手段(60)と、を備える。
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)