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1. (WO2017175364) DISPOSITIF D’IMAGERIE À RAYONS X
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication : WO/2017/175364 N° de la demande internationale : PCT/JP2016/061471
Date de publication : 12.10.2017 Date de dépôt international : 08.04.2016
CIB :
G21K 3/00 (2006.01) ,A61B 6/00 (2006.01) ,G01N 23/04 (2006.01) ,G01N 23/20 (2006.01) ,G21K 5/02 (2006.01)
G PHYSIQUE
21
PHYSIQUE NUCLÉAIRE; TECHNIQUE NUCLÉAIRE
K
TECHNIQUES NON PRÉVUES AILLEURS POUR MANIPULER DES PARTICULES OU DES RAYONNEMENTS IONISANTS; DISPOSITIFS D'IRRADIATION; MICROSCOPES À RAYONS GAMMA OU À RAYONS X
3
filtres à rayonnements ionisants, p.ex. filtres à rayons X
A NÉCESSITÉS COURANTES DE LA VIE
61
SCIENCES MÉDICALE OU VÉTÉRINAIRE; HYGIÈNE
B
DIAGNOSTIC; CHIRURGIE; IDENTIFICATION
6
Appareils pour diagnostic par radiations, p.ex. combinés avec un équipement de thérapie par radiations
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
N
RECHERCHE OU ANALYSE DES MATÉRIAUX PAR DÉTERMINATION DE LEURS PROPRIÉTÉS CHIMIQUES OU PHYSIQUES
23
Recherche ou analyse des matériaux par l'utilisation de rayonnement (ondes ou particules) non couvertes par le groupe G01N21/ ou G01N22/183
02
en transmettant la radiation à travers le matériau
04
et formant une image
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
N
RECHERCHE OU ANALYSE DES MATÉRIAUX PAR DÉTERMINATION DE LEURS PROPRIÉTÉS CHIMIQUES OU PHYSIQUES
23
Recherche ou analyse des matériaux par l'utilisation de rayonnement (ondes ou particules) non couvertes par le groupe G01N21/ ou G01N22/183
20
en utilisant la diffraction de la radiation, p.ex. pour rechercher la structure cristalline, en utilisant la réflexion de la radiation
G PHYSIQUE
21
PHYSIQUE NUCLÉAIRE; TECHNIQUE NUCLÉAIRE
K
TECHNIQUES NON PRÉVUES AILLEURS POUR MANIPULER DES PARTICULES OU DES RAYONNEMENTS IONISANTS; DISPOSITIFS D'IRRADIATION; MICROSCOPES À RAYONS GAMMA OU À RAYONS X
5
Dispositifs d'irradiation
02
n'ayant aucun moyen pour former le faisceau
Déposants :
株式会社日立製作所 HITACHI, LTD. [JP/JP]; 東京都千代田区丸の内一丁目6番6号 6-6, Marunouchi 1-chome, Chiyoda-ku, Tokyo 1008280, JP
Inventeurs :
米山 明男 YONEYAMA Akio; JP
馬場 理香 BABA Rika; JP
Mandataire :
戸田 裕二 TODA Yuji; JP
Données relatives à la priorité :
Titre (EN) X-RAY IMAGING DEVICE
(FR) DISPOSITIF D’IMAGERIE À RAYONS X
(JA) X線撮像装置
Abrégé :
(EN) The present invention enhances the density resolution of an imaging device that uses Talbot interferometry. Provided is an X-ray imaging device comprising an X-ray source, a positioning mechanism for positioning a subject in relation to X-rays, diffraction grating 1 and diffraction grating 2 for creating the Talbot effect in X-rays that have passed through a subject, an X-ray image detector for detecting formed X-ray interference fringes, a processing unit for calculating a subject image from the detected interference fringes, and a display unit for displaying the calculation results, wherein removing X-rays having energies that do not contribute to interference by providing an energy filter between the X-ray source and the subject positioning mechanism increases visibility and density resolution.
(FR) La présente invention améliore la résolution de densité d'un dispositif d'imagerie qui utilise l'interférométrie de Talbot. L'invention concerne un dispositif d'imagerie à rayons X comprenant une source de rayons X, un mécanisme de positionnement pour positionner un sujet par rapport aux rayons X, un réseau de diffraction 1 et un réseau de diffraction 2 pour créer l'effet de Talbot dans des rayons X qui ont traversé un sujet, un détecteur d'image radiographique pour détecter des franges d'interférence de rayons X formées, une unité de traitement pour calculer une image de sujet à partir des franges d'interférence détectées, et une unité d'affichage pour afficher les résultats de calcul, l'élimination des rayons X ayant des énergies qui ne contribuent pas à l'interférence en disposant un filtre d'énergie entre la source de rayons X et le mécanisme de positionnement de sujet augmente la visibilité et la résolution de densité.
(JA) タルボ干渉法を用いた撮像装置における密度分解能を向上する。 X線源と、X線に対して被写体を位置決めする位置決め機構と、被写体を透過したX線にタルボ干渉効果を生じさせる回折格子1および回折格子2と、形成されたX線干渉縞を検出するX線画像検出器と、検出した干渉縞から被写体の像を演算で求める処理部と、演算結果を表示する表示部から構成されたX線撮像装置において、X線源と被写体の位置決め機構の間にエネルギーフィルターを設け、干渉に寄与しないエネルギーのX線を取り除くことでVisibilityを向上し、密度分解能を向上する。
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États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
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Office européen des brevets (OEB (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)