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1. (WO2017175341) PROCÉDÉ DE MESURE, DISPOSITIF DE MESURE, PROGRAMME DE MESURE, ET SUPPORT D'ENREGISTREMENT LISIBLE PAR ORDINATEUR SUR LEQUEL EST ENREGISTRÉ LE PROGRAMME DE MESURE

Pub. No.:    WO/2017/175341    International Application No.:    PCT/JP2016/061324
Publication Date: Fri Oct 13 01:59:59 CEST 2017 International Filing Date: Thu Apr 07 01:59:59 CEST 2016
IPC: G01B 11/25
Applicants: 4D SENSOR INC.
4Dセンサー株式会社
Inventors: MORIMOTO, Yoshiharu
森本 吉春
KUSUNOKI, Yoshiyuki
楠 芳之
UEKI, Masaki
植木 将貴
MASAYA, Akihiro
柾谷 明大
TAKAGI, Akifumi
高木 哲史
Title: PROCÉDÉ DE MESURE, DISPOSITIF DE MESURE, PROGRAMME DE MESURE, ET SUPPORT D'ENREGISTREMENT LISIBLE PAR ORDINATEUR SUR LEQUEL EST ENREGISTRÉ LE PROGRAMME DE MESURE
Abstract:
La présente invention concerne un procédé de mesure dans lequel : une image est capturée d'un réseau qui est projeté sur une surface de référence ; un système optique est ajusté de telle sorte que la phase, qui est 2 mπ (m est un nombre entier), du réseau projeté à l'intérieur d'un rectangle composé de pixels Mx dans une direction x et de pixels Ny dans une direction y (Mx et Ny étant des nombres entiers de 2 ou plus) de l'image capturée du réseau projeté sur la surface de référence soit divisée de manière égale entre Mx × Ny (= m) ; une image est capturée d'un motif de réseau qui est projeté sur un objet placé sur la surface de référence ; des valeurs de luminance sont obtenues pour 2 mπ uniformément divisées parmi les pixels Mx × Ny dans une région rectangulaire de pixels Mx × Ny composés de pixels Mx disposés en réseau dans la direction x et de pixels Ny disposés en réseau dans la direction y de l'image capturée du motif de réseau projeté sur l'objet ; des phases sont obtenues à l'aide des valeurs de luminance ; une image est capturée du motif de réseau projeté sur l'objet placé sur la surface de référence ; et des positions sur une surface de l'objet sont obtenues en fonction de phases qui sont décalées pour chaque pixel de l'image capturée du motif de réseau projeté sur l'objet.