EP2017058288 PROCÉDÉ ET DISPOSITIF DE MICROSCOPIE INTERFÉRENTIELLE PLEIN CHAMP EN LUMIÈRE INCOHÉRENTE

1. (WO2017174743) PROCÉDÉ ET DISPOSITIF DE MICROSCOPIE INTERFÉRENTIELLE PLEIN CHAMP EN LUMIÈRE INCOHÉRENTE

Phase nationale

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N° de publication :		WO/2017/174743		N° de la demande internationale :		PCT/EP2017/058288
Date de publication :		12.10.2017		Date de dépôt international :		06.04.2017

CIB :

G01B 9/02 (2006.01), G01B 9/04 (2006.01), G02B 21/14 (2006.01)

Déposants :

LLTECH MANAGEMENT [FR/FR]; Pépinière Paris Santé Cochin 29 rue du Faubourg Saint Jacques 75014 PARIS (FR)

Inventeurs :

BOCCARA, Albert Claude; (FR)

Mandataire :

OSHA LIANG; 2 rue de la Paix 75002 PARIS (FR)

Données relatives à la priorité :

1653009

06.04.2016

Titre

(EN) METHOD AND DEVICE FOR FULL-FIELD INTERFERENCE MICROSCOPY USING INCOHERENT LIGHT
(FR) PROCÉDÉ ET DISPOSITIF DE MICROSCOPIE INTERFÉRENTIELLE PLEIN CHAMP EN LUMIÈRE INCOHÉRENTE

Abrégé :

(EN)Imaging method using full-field interference microscopy of a three-dimensional scattering sample placed on an object arm of an interference device. The method comprises producing, by means of the interference device (200), a two-dimensional interferometric signal resulting from interference between a reference wave obtained by reflection of an incident light wave at a reflection surface (205) of a reference arm of the interference device (200), and an object wave obtained by backscattering of the incident light wave by a coherence slice of the sample (206) placed in the object arm of the interference device (200); acquiring (320), at a fixed step difference between the object arm and the reference arm, a raw interferometric image from the two-dimensional interferometric signal; calculating (330) a normalised image from the raw interferometric image and a reference image; calculating (340) a full-field OCT image of the coherence slice of the sample by elimination, in the normalised image, of low-frequency spatial fluctuations defined as a function of the width of the central peak of an autocorrelation function of the interferometric image.
(FR)Procédé d'imagerie par microscopie interfércntielle plein champ d'un échantillon volumique et diffusant placé sur un bras objet d'un dispositif d'interférence. Le procédé comprend une production, au moyen du dispositif d' interférence (200), d'un signal interférométrique bidimensionnel résultant d'une interférence entre, d'une part, une onde de référence obtenue par réflexion d' une onde lumineuse incidente sur une surface de réflexion (205) d'un bras de référence du dispositif d'interférence (200), et, d'autre part, une onde objet obtenue par rétrodiffusion de l 'onde lumineuse incidente par une tranche de cohérence de l'échantillon (206) placé dans le bras objet du dispositif d' interférence (200); une acquisition (320), à différence de marche fixe entre le bras objet et le bras de référence, d'une image interférométrique brute à partir du signal interférométrique bidimensionnel; un calcul (330) d'une image normalisée à partir de l'image interférométrique brute et d'une image de référence; un calcul (340) d'une image OCT plein champ de la tranche de cohérence de l'échantillon par élimination, dans l' image normalisée, de fluctuations spatiales basses fréquences définies en. fonction de la largeur du pic central d'une fonction d'autocorrélation de l 'image interférométrique.

États désignés :

AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).

Langue de publication :	français (FR)
Langue de dépôt :	français (FR)

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