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1. (WO2017174233) SYSTÈME ET PROCÉDÉ DE CONTRÔLE POUR FABRICATION ADDITIVE
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N° de publication :    WO/2017/174233    N° de la demande internationale :    PCT/EP2017/052834
Date de publication : 12.10.2017 Date de dépôt international : 09.02.2017
CIB :
B29C 67/00 (2017.01), B33Y 40/00 (2015.01)
Déposants : SIEMENS AKTIENGESELLSCHAFT [DE/DE]; Werner-von-Siemens-Straße 1 80333 München (DE)
Inventeurs : HOCKLEY, Carl; (DE).
LEBED, Yaroslav; (DE)
Données relatives à la priorité :
16163785.5 05.04.2016 EP
Titre (EN) CONTROL SYSTEM AND METHOD FOR ADDITIVE MANUFACTURING
(FR) SYSTÈME ET PROCÉDÉ DE CONTRÔLE POUR FABRICATION ADDITIVE
Abrégé : front page image
(EN)Quality control method of a stock (30) of a base material (2) for the additive manufacture of components (1) comprising selecting a batch of a base material (2) out of a plurality of indexed batches of the stock (30), wherein base material (2) assigned to the same batch index (BI) is indicative to the quality of the respective base material (2), loading a quantity of base material (2) of the selected batch into a manufacturing system (100), additively manufacturing the component (1) from the base material, wherein the base material (2) of the selected batch is exposed to manufacturing conditions in a build area (50) and updating the batch index (BI) of the base material (2) remaining from the additive manufacture in the build area (50) according to the exposure. Control system (10) for a stock (30) of a base material (2) for an additive manufacture of a component (1), the control system (10) comprising a plurality of containers (15) for retaining the base material (2), wherein the control system (10) is configured to track the base material (2) and its quality during a plurality of manufacturing jobs in that the stock (30) is subdivided into a plurality of batches of base material (2).
(FR)L’invention concerne un procédé de contrôle de qualité d'un stock (30) d'un matériau de base (2) pour la fabrication additive d’éléments (1) comprenant la sélection d'un lot de matériau de base (2) parmi une pluralité de lots indexés du stock (30), le matériau de base (2) associé au même indice de lot (BI) étant indicatif de la qualité du matériau de base respectif (2), le chargement d’une quantité de matériau de base (2) du lot sélectionné dans un système de fabrication (100), la fabrication de manière additive de l’élément (1) à partir du matériau de base, le matériau de base (2) du lot sélectionné étant exposé à des conditions de fabrication dans une zone de construction (50) et la mise à jour de l'indice de lot (BI) du matériau de base (2) restant à partir de la fabrication additive dans la zone de construction (50) en fonction de l'exposition. L’invention concerne un système de contrôle (10) pour un stock (30) d'un matériau de base (2) pour une fabrication additive d'un élément (1), le système de contrôle (10) comprenant une pluralité de contenants (15) pour retenir le matériau de base (2), le système de contrôle (10) étant conçu pour suivre le matériau de base (2) et sa qualité pendant une pluralité de travaux de fabrication, le stock (30) étant subdivisé en une pluralité de lots de matériau de base (2).
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)