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1. (WO2017173744) SYSTÈME DE MESURE TRIDIMENSIONNELLE À MULTIPLES MODES DE MESURE ET PROCÉDÉ DE MESURE

Pub. No.:    WO/2017/173744    International Application No.:    PCT/CN2016/091913
Publication Date: 12 oct. 2017 International Filing Date: 27 juil. 2016
IPC: G01B 11/25
Applicants: HANGZHOU SHINING 3D TECH CO., LTD.
杭州先临三维科技股份有限公司
Inventors: ZHAO, Xiaobo
赵晓波
WANG, Wenbin
王文斌
YE, Zi
叶子
YE, Chongmao
叶冲茂
ZHANG, Jian
张健
HUANG, Leijie
黄磊杰
XIANG, Xiaoping
向小平
Title: SYSTÈME DE MESURE TRIDIMENSIONNELLE À MULTIPLES MODES DE MESURE ET PROCÉDÉ DE MESURE
Abstract:
L'invention concerne un système de mesure tridimensionnelle à multiples modes de mesure et un procédé de mesure, ces derniers se rapportant au domaine de l'imagerie numérique tridimensionnelle. Le système de mesure comprend une unité de commande, une unité de génération de motif numérique variable, une unité de traitement d'image, une unité de calcul et au moins un capteur d'image (3). L'unité de commande est utilisée pour commander une opération de coordination de l'ensemble du système de mesure. L'unité de génération de motif numérique variable comprend une mémoire et un projecteur, la mémoire stockant une pluralité de motifs numériques de modèle lumineux. Le capteur d'image (3) est utilisé pour acquérir un motif projeté sur une surface d'un objet mesuré. L'unité de traitement d'image est un processeur d'image numérique multimode. L'unité de calcul est un calculateur de nuage de points tridimensionnel multimode. Le système de mesure tridimensionnelle à multiples modes de mesure et le procédé de mesure peuvent, par commutation d'un mode de mesure, réaliser une mesure tridimensionnelle hautement précise et hautement détaillée ou une mesure en temps réel manuelle de surfaces de différents objets mesurés, et ont une large plage d'application.