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1. (WO2017173357) VALIDATION DE CIRCUITS COMPRENANT DE MULTIPLES VARIANTES DE COMPOSANTS INDIVIDUELS
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N° de publication : WO/2017/173357 N° de la demande internationale : PCT/US2017/025533
Date de publication : 05.10.2017 Date de dépôt international : 31.03.2017
CIB :
G06F 17/50 (2006.01) ,G01R 31/26 (2014.01) ,G06F 11/00 (2006.01)
G PHYSIQUE
06
CALCUL; COMPTAGE
F
TRAITEMENT ÉLECTRIQUE DE DONNÉES NUMÉRIQUES
17
Equipement ou méthodes de traitement de données ou de calcul numérique, spécialement adaptés à des fonctions spécifiques
50
Conception assistée par ordinateur
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
R
MESURE DES VARIABLES ÉLECTRIQUES; MESURE DES VARIABLES MAGNÉTIQUES
31
Dispositions pour vérifier les propriétés électriques; Dispositions pour la localisation des pannes électriques; Dispositions pour l'essai électrique caractérisées par ce qui est testé, non prévues ailleurs
26
Essai de dispositifs individuels à semi-conducteurs
G PHYSIQUE
06
CALCUL; COMPTAGE
F
TRAITEMENT ÉLECTRIQUE DE DONNÉES NUMÉRIQUES
11
Détection d'erreurs; Correction d'erreurs; Contrôle de fonctionnement
Déposants :
MENTOR GRAPHICS CORPORATION [US/US]; 8005 S.W. Boekman Road Wilsonville, Oregon 97070, US
Inventeurs :
ALAM, Michael; CA
Mandataire :
RICHMOND, Jeff; US
Données relatives à la priorité :
62/315,73531.03.2016US
Titre (EN) CIRCUIT VALIDATION FOR CIRCUITS COMPRISING MULTIPLE POSSIBLE VARIANTS FOR INDIVIDUAL COMPONENTS
(FR) VALIDATION DE CIRCUITS COMPRENANT DE MULTIPLES VARIANTES DE COMPOSANTS INDIVIDUELS
Abrégé :
(EN) Circuits may be designed using computer aided design tools and may comprise a plurality of different possible variants of individual components. These multi-variant component circuits may be validated to identify potential problems by generating an aggregate parametric model for the multi-variant components and then using the aggregate parametric model in applying tests to different connection networks of the circuit definition.
(FR) Des circuits peuvent être conçus à l'aide d'outils de conception assistée par ordinateur et peuvent comprendre une pluralité de variantes de composants individuels. Lesdits circuits à composants à variantes multiples peuvent être validés de façon à identifier des problèmes potentiels en générant un modèle paramétrique agrégé pour les composants à variantes multiples puis en utilisant le modèle paramétrique agrégé lors de l'application de tests à différents réseaux de connexion de la définition de circuits.
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États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)