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1. (WO2017172808) SYSTÈME D'ALIGNEMENT DE VISION DE SITE DE TEST DE CI
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international    Formuler une observation

N° de publication : WO/2017/172808 N° de la demande internationale : PCT/US2017/024594
Date de publication : 05.10.2017 Date de dépôt international : 28.03.2017
CIB :
G01R 31/28 (2006.01)
Déposants : DELTA DESIGN, INC.[US/US]; 12367 Crosthwaite Circle Poway, California 92064, US
Inventeurs : DING, Kexiang; US
STUCKEY, Larry; US
FRANDSEN, James; US
KABBANI, Samer; US
LAVER, Michael Anthony; US
Mandataire : BECK, George; US
SCHORR, Kristel; US
AGARWAL, Pavan K.; US
BERKOWITZ, Benjamin; US
BRINCKERHOFF, Courtenay; US
FELDHAUS, John J.; US
HENSCHEL, Rouget; US
KAMINSKI, Michael D.; US
LAW, Glenn; US
MAEBIUS, Stephen; US
QUILLIN, George E.; US
RAWLINS, Andrew E.; US
SIMKIN, Michele; US
Données relatives à la priorité :
62/314,48229.03.2016US
Titre (EN) IC TEST SITE VISION ALIGNMENT SYSTEM
(FR) SYSTÈME D'ALIGNEMENT DE VISION DE SITE DE TEST DE CI
Abrégé : front page image
(EN) A vision alignment system for a test handler system includes a transfer mechanism that transfers a device from an input side to a test side, a contactor array positioned at the test side, and a pick- and-place device that moves the device from the transfer mechanism to the contactor array. An engagement mechanism on the pick-and-place device engages with alignment devices on the transfer mechanism and contactor array. To avoid positioning the vision alignment system in the test side, a first vision mechanism is positioned away from the test socket and determines the position of the device in a common local coordinate system, a second vision mechanism is positioned at an output side and determines a position of the contactor array in the local coordinate system, and the correction mechanism corrects a position of the device based on an offset between the positions in the coordinate system.
(FR) L'invention concerne un système d'alignement de vision pour un système de manipulateur de test, lequel système d'alignement comprend un mécanisme de transfert qui transfère un dispositif d'un côté entrée vers un côté test, un réseau de contacteurs positionné sur le côté test, et un dispositif de saisie et de positionnement qui déplace le dispositif du mécanisme de transfert vers le réseau de contacteurs. Un mécanisme de mise en prise sur le dispositif de saisie et de positionnement vient en prise avec des dispositifs d'alignement sur le mécanisme de transfert et le réseau de contacteurs. Pour éviter un positionnement du système d'alignement de vision dans le côté test, un premier mécanisme de vision est positionné à distance de la prise de test et détermine la position du dispositif dans un système de coordonnées locales commun, un second mécanisme de vision est positionné au niveau d'un côté sortie et détermine une position du réseau de contacteurs dans le système de coordonnées locales, et le mécanisme de correction corrige une position du dispositif sur la base d'un décalage entre les positions dans le système de coordonnées.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)