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1. (WO2017172115) BROCHES DE SONDE À POINTES GRAVÉES POUR TEST DE DÉ ÉLECTRIQUE

Pub. No.:    WO/2017/172115    International Application No.:    PCT/US2017/018733
Publication Date: Fri Oct 06 01:59:59 CEST 2017 International Filing Date: Wed Feb 22 00:59:59 CET 2017
IPC: G01R 1/067
G01R 1/073
G01R 31/28
Applicants: INTEL CORPORATION
Inventors: STANFORD, Joseph D.
CRAIG, David
ALBERTSON, Todd P.
MAMODIA, Mohit
XU, Dingying
Title: BROCHES DE SONDE À POINTES GRAVÉES POUR TEST DE DÉ ÉLECTRIQUE
Abstract:
L'invention concerne une tête sondeuse pour interfacer un appareil de test électronique avec un dispositif à tester, qui peut être un dé non conditionné, par exemple. Dans certains modes de réalisation, la tête sondeuse comprend un réseau de broches conductrices, chaque broche s'étendant vers l'extérieur depuis une première extrémité de broche ancrée à un substrat. Au moins une longueur partielle de chaque broche est revêtue d'une monocouche hydrophobe. Les broches conductrices peuvent être des fils métalliques composites comprenant un métal central entouré d'un ou de plusieurs métaux périphériques. Au niveau d'une extrémité des broches, à l'opposé de la première extrémité de broche ancrée au substrat, les métaux périphériques sont évidés du métal central. Dans d'autres modes de réalisation, la monocouche hydrophobe est disposée sur une surface externe des métaux périphériques, mais est sensiblement absente d'une surface du métal central exposée à la pointe.