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1. (WO2017171964) SYSTÈME DE MESURE PAR LASER TRIDIMENSIONNEL ET PROCÉDÉ ASSOCIÉ
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international    Formuler une observation

N° de publication : WO/2017/171964 N° de la demande internationale : PCT/US2017/012953
Date de publication : 05.10.2017 Date de dépôt international : 11.01.2017
CIB :
G01S 17/00 (2006.01) ,G01C 15/00 (2006.01) ,G01S 17/08 (2006.01) ,G01S 17/42 (2006.01) ,G01S 1/70 (2006.01) ,G01S 5/16 (2006.01) ,G01S 17/74 (2006.01)
Déposants : TOPCON POSITIONING SYSTEMS, INC.[US/US]; 7400 National Drive Livermore, CA 94550, US
Inventeurs : KHATUNTSEV, Nikolay, V.; US
Mandataire : WEINICK, Jeffrey, M.; US
Données relatives à la priorité :
15/086,37731.03.2016US
Titre (EN) THREE DIMENSIONAL LASER MEASURING SYSTEM AND METHOD
(FR) SYSTÈME DE MESURE PAR LASER TRIDIMENSIONNEL ET PROCÉDÉ ASSOCIÉ
Abrégé : front page image
(EN) A laser measuring system is provided by combining N-beams, angle based modulation and a laser receiver and laser transmitter configured with corner reflectors for signal shift measuring to facilitate full three dimensional positioning.
(FR) L'invention concerne un système de mesure par laser obtenu par combinaison de N faisceaux, d'une modulation basée sur un angle et d'un récepteur laser et d'un émetteur laser équipé de réflecteurs polyédriques pour une mesure de décalage de signal permettant de faciliter un positionnement tridimensionnel complet.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)