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1. (WO2017171258) PROCÉDÉ ET SYSTÈME PERMETTANT DE CORRIGER DES SIGNAUX À PARTIR D'UN DÉTECTEUR POUR UNE DÉTECTION PAR RAYONS X
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N° de publication :    WO/2017/171258    N° de la demande internationale :    PCT/KR2017/002519
Date de publication : 05.10.2017 Date de dépôt international : 08.03.2017
CIB :
A61B 6/00 (2006.01), G06T 11/00 (2006.01)
Déposants : KALEIDOSOFT CO., LTD. [KR/KR]; C-302, 168, Gasan digital 1-ro Geumcheon-gu Seoul 08507 (KR)
Inventeurs : SHIN, Young Hoon; (KR)
Mandataire : SON, Min; (KR)
Données relatives à la priorité :
10-2016-0036890 28.03.2016 KR
Titre (EN) METHOD AND SYSTEM FOR CORRECTING SIGNALS FROM DETECTOR FOR X-RAY DETECTION
(FR) PROCÉDÉ ET SYSTÈME PERMETTANT DE CORRIGER DES SIGNAUX À PARTIR D'UN DÉTECTEUR POUR UNE DÉTECTION PAR RAYONS X
(KO) X선 검출용 디텍터의 신호를 교정하기 위한 방법 및 시스템
Abrégé : front page image
(EN)Disclosed are a method and a system for correcting signals from a detector for X-ray detection. According to an embodiment, there is provided is a method for correcting signals from a detector for X-ray detection using a detector signal correcting system (10) comprising detector inspection equipment (100) and X-ray imaging equipment (200). The detector inspection equipment (100) comprises a first X-ray emitting portion (110) and a first microprocessor (120), and the X-ray imaging equipment (200) comprises a second X-ray emitting portion (210), a detector (D) to be corrected, and a second microprocessor (220). The correcting method comprises the steps of: (S10) acquiring a plurality of dark images with regard to the detector (D) by the first microprocessor (120) and calculating a signal standard deviation and a primary offset with regard to each pixel of the detector (D); (S20) selecting a first group of bad pixels (BP1) by the first microprocessor (120) on the basis of the signal standard deviation and the primary offset information; (S30) acquiring a plurality of bright images with regard to the detector (D) by the first microprocessor (120) and calculating a secondary offset and a gain with regard to each pixel of the detector (D); (S40) selecting a second group of bad pixels (BP2) by the first microprocessor (120) on the basis of the secondary offset and the gain information; (S50) correcting detection signals from respective pixels, which are obtained when the bright images are acquired, on the basis of the primary offset, the secondary offset, and the gain and selecting a third group of bad pixels (BP3) on the basis of the resulting corrected signal values by the first microprocessor (120), thereby completing a bad pixel map (BPM); and (S60) correcting signals from bad pixels using the bad pixel amp (BPM) by the second microprocessor (220) when an X-ray image of a subject is taken by the X-ray imaging equipment (200).
(FR)La présente invention se rapporte à un procédé et un système qui permettent de corriger des signaux à partir d'un détecteur pour une détection par rayons X. Selon un mode de réalisation, la présente invention a trait à un procédé qui permet de corriger des signaux à partir d'un détecteur pour une détection par rayons X à l'aide d'un système de correction de signaux de détecteur (10) comprenant un équipement d'inspection de détecteur (100) et un équipement d'imagerie par rayons X (200). L'équipement d'inspection de détecteur (100) comporte une première partie d'émission de rayons X (110) et un premier microprocesseur (120), et l'équipement d'imagerie par rayons X (200) comprend une seconde partie d'émission de rayons X (210), un détecteur (D) à corriger, ainsi qu'un second microprocesseur (220). Le procédé de correction comprend les étapes suivantes : (S10) l'acquisition d'une pluralité d'images sombres pour ce qui est du détecteur (D) par le premier microprocesseur (120), et le calcul d'un écart-type de signal et d'un décalage primaire pour ce qui est de chaque pixel du détecteur (D); (S20) la sélection d'un premier groupe de pixels défectueux (BP1) par ledit premier microprocesseur (120) sur la base de l'écart-type de signal et des informations de décalage primaire; (S30) l'acquisition d'une pluralité d'images claires pour ce qui est du détecteur (D) par ce premier microprocesseur (120), et le calcul d'un décalage secondaire et d'un gain pour ce qui est de chaque pixel du détecteur (D); (S40) la sélection d'un deuxième groupe de pixels défectueux (BP2) par le premier microprocesseur (120) sur la base du décalage secondaire et des informations de gain; (S50) la correction de signaux de détection à partir de pixels respectifs, qui sont obtenus lorsque les images claires sont acquises, sur la base du décalage primaire, du décalage secondaire et du gain, et la sélection d'un troisième groupe de pixels défectueux (BP3) sur la base des valeurs de signaux corrigés ainsi obtenues par le premier microprocesseur (120), ce qui permet d'achever une carte de pixels défectueux (BPM); et (S60) la correction de signaux à partir de pixels défectueux à l'aide de la carte de pixels défectueux (BPM) par le second microprocesseur (220) lorsqu'une image radiologique d'un sujet est capturée par l'équipement d'imagerie par rayons X (200).
(KO)X선 검출용 디텍터의 신호 교정 방법 및 시스템이 개시된다. 일 실시예에 따르면, 디텍터 검사 장비(100)와 X선 촬영 장비(200)로 구성된 디텍터 신호 교정 시스템(10)을 이용한 X선 검출용 디텍터의 신호 교정 방법으로서, 상기 디텍터 검사 장비(100)는 제1 X선 조사부(110) 및 제1 마이크프로세서(120)를 포함하고, 상기 X선 촬영 장비(200)는 제2 X선 조사부(210), 교정 대상 디텍터(D) 및 제2 마이크로프로세서(220)를 포함하며, 상기 교정 방법은, (S10) 상기 제1 마이크로프로세서(120)에 의해 상기 디텍터(D)에 대해 복수의 다크 이미지를 획득하여 상기 디텍터(D)의 각 픽셀에 대해 신호표준편차 및 1차오프셋을 산출하는 단계; (S20) 상기 제1 마이크로프로세서(120)에 의해 상기 신호표준편차 및 상기 1차오프셋 정보에 기초하여 제1그룹 배드픽셀(BP1)을 선별하는 단계; (S30) 상기 제1 마이크로프로세서(120)에 의해 상기 디텍터(D)에 대해 복수의 브라이트 이미지를 획득하여 상기 디텍터(D)의 각 픽셀에 대해 2차오프셋 및 게인을 산출하는 단계; (S40) 상기 제1 마이크로프로세서(120)에 의해 상기 2차오프셋 및 상기 게인 정보에 기초하여 제2그룹 배드픽셀(BP2)을 선별하는 단계; (S50) 상기 제1 마이크로프로세서(120)에 의해, 상기 브라이트 이미지 획득 시 얻어진 각 픽셀의 검출 신호를 상기 1차 오프셋, 상기 2차 오프셋 및 상기 게인에 기초하여 교정한 교정 신호 값에 기초하여 제3그룹 배드픽셀(BP3)을 선별함으로써 배드픽셀맵(BPM)을 완성하는 단계; 및 (S60) X선 촬영 장비(200)를 가지고 피검사체에 대한 X선 영상을 촬영할 때, 상기 제2 마이크로프로세서(220)에 의해 상기 배드픽셀맵(BPM)을 이용하여 배드픽셀들의 신호들을 교정하는 단계;를 포함하는, X선 검출용 디텍터의 신호 교정 방법이 제공된다.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : coréen (KO)
Langue de dépôt : coréen (KO)