Certains contenus de cette application ne sont pas disponibles pour le moment.
Si cette situation persiste, veuillez nous contacter àObservations et contact
1. (WO2017171195) PROCÉDÉ D'INSPECTION NON DESTRUCTRICE DE GRAPHÈNE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international    Formuler une observation

N° de publication : WO/2017/171195 N° de la demande internationale : PCT/KR2016/014100
Date de publication : 05.10.2017 Date de dépôt international : 02.12.2016
CIB :
G01N 21/88 (2006.01) ,G01Q 60/10 (2010.01) ,G03H 1/24 (2006.01)
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
N
RECHERCHE OU ANALYSE DES MATÉRIAUX PAR DÉTERMINATION DE LEURS PROPRIÉTÉS CHIMIQUES OU PHYSIQUES
21
Recherche ou analyse des matériaux par l'utilisation de moyens optiques, c. à d. en utilisant des rayons infrarouges, visibles ou ultraviolets
84
Systèmes spécialement adaptés à des applications particulières
88
Recherche de la présence de criques, de défauts ou de souillures
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
Q
TECHNIQUES OU APPAREILS À SONDE À BALAYAGE; APPLICATIONS DES TECHNIQUES DE SONDE À BALAYAGE, p.ex. MICROSCOPIE À SONDE À BALAYAGE [SPM]
60
Types particuliers de microscopie à sonde à balayage SPM [Scanning-Probe Microscopy] ou appareils à cet effet; Composants essentiels de ceux-ci
10
Microscopie à effet tunnel à balayage STM [Scanning Tunnelling Microscopy] ou appareils à cet effet, p.ex. sondes STM
G PHYSIQUE
03
PHOTOGRAPHIE; CINÉMATOGRAPHIE; TECHNIQUES ANALOGUES UTILISANT D'AUTRES ONDES QUE DES ONDES OPTIQUES; ÉLECTROGRAPHIE; HOLOGRAPHIE
H
PROCÉDÉS OU APPAREILS HOLOGRAPHIQUES
1
Procédés ou appareils holographiques utilisant la lumière, les infrarouges ou les ultraviolets pour obtenir des hologrammes ou pour en obtenir une image; Leurs détails spécifiques
22
Procédés ou appareils pour obtenir une image optique à partir d'un hologramme
24
utilisant de la lumière blanche
Déposants :
전자부품연구원 KOREA ELECTRONICS TECHNOLOGY INSTITUTE [KR/KR]; 경기도 성남시 분당구 새나리로 25 25, Saenari-ro, Bundang-gu, Seongnam-si, Gyeonggi-do 13509, KR
Inventeurs :
김형근 KIM, Hyeong Keun; KR
유세현 RHYU, Se Hyun; KR
김예경 KIM, Ye Kyung; KR
김예나 KIM, Ye Na; KR
Mandataire :
남충우 NAM, Choong Woo; KR
Données relatives à la priorité :
10-2016-003902931.03.2016KR
Titre (EN) GRAPHENE NON-DESTRUCTIVE INSPECTION METHOD
(FR) PROCÉDÉ D'INSPECTION NON DESTRUCTRICE DE GRAPHÈNE
(KO) 그래핀 비파괴 검사방법
Abrégé :
(EN) Proposed is a graphene non-destructive inspection method capable of performing efficient inspection by enabling real-time inspection to be performed in a graphene synthesis process without damage to the graphene and large-area graphene inspection to be performed. The graphene non-destructive inspection method according to the present invention comprises the steps of: emitting light at a metal substrate on which graphene is synthesized on the surface thereof; and extracting a region in which the metal substrate has been oxidized because of the light.
(FR) La présente invention concerne un procédé d'inspection non destructrice de graphène permettant d'effectuer une inspection efficace en permettant qu'une inspection en temps réel soit effectuée dans un processus de synthèse de graphène sans endommager le graphène et l'inspection de graphène à aire élevée devant être effectuée. Le procédé d'inspection non destructrice de graphène selon la présente invention comprend les étapes de : émission de lumière sur un substrat métallique sur lequel du graphène est synthétisé sur la surface de celui-ci; et extraction d'une région dans laquelle le substrat métallique a été oxydé sous l'effet de la lumière.
(KO) 그래핀 손상없이 그래핀 합성과정에서 실시간으로 검사가 가능하고 대면적 그래핀 검사가 가능하여 효율적인 검사를 수행할 수 있는 그래핀 비파괴 검사방법이 제안된다. 본 발명에 따른 그래핀 비파괴 검사방법은 표면에 그래핀이 합성된 금속기판에 광을 조사하는 단계 및 광에 의해 금속기판이 산화된 영역을 추출하는 단계를 포함한다.
front page image
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Langue de publication : coréen (KO)
Langue de dépôt : coréen (KO)