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1. (WO2017171153) PROCÉDÉ D'INSPECTION DE PLAQUE POLARISANTE ET DISPOSITIF D'INSPECTION DE PLAQUE POLARISANTE
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N° de publication :    WO/2017/171153    N° de la demande internationale :    PCT/KR2016/008728
Date de publication : 05.10.2017 Date de dépôt international : 09.08.2016
CIB :
G01N 21/59 (2006.01), G02B 5/30 (2006.01), G01N 21/88 (2006.01), G01N 21/94 (2006.01), G01J 9/00 (2006.01), G01N 21/55 (2006.01), G01J 1/44 (2006.01)
Déposants : DONGWOO FINE-CHEM CO., LTD. [KR/KR]; 132, Yakchon-ro Iksan-si, Jeollabuk-do 54631 (KR)
Inventeurs : LEE, Eun Gyu; (KR).
JEON, Joo Byung; (KR).
EOM, Dong Hwan; (KR)
Mandataire : DARAE IP FIRM; (KIPS, Yeoksam-dong) 10th Floor, 131, Teheran-ro Gangnam-gu, Seoul 06133 (KR)
Données relatives à la priorité :
10-2016-0039473 31.03.2016 KR
10-2016-0039477 31.03.2016 KR
Titre (EN) POLARIZING PLATE INSPECTION METHOD AND POLARIZING PLATE INSPECTION DEVICE
(FR) PROCÉDÉ D'INSPECTION DE PLAQUE POLARISANTE ET DISPOSITIF D'INSPECTION DE PLAQUE POLARISANTE
(KO) 편광판 검사 방법 및 편광판 검사 장치
Abrégé : front page image
(EN)A method for inspecting a polarizing plate according to the present invention comprises the steps of: (a) preparing a polarizing plate to be inspected having an anisotropic release film on a lower portion of a polarizer to be inspected; (b) positioning a polarizing plate at the side of an inspection device, having a retardation compensation film on an upper portion of the polarizer at the side of the inspection device, below the polarizing plate to be inspected; (c) measuring brightness by a cross-Nicol method when light passes through the polarizing plate to be inspected and the polarizing plate at the side of the inspection device while moving the retardation compensation film on the y-axis, wherein the z-axis is the travel direction of the light, the x-axis is the direction in which the polarizing plate to be inspected moves on a plane perpendicular to the z-axis, and the y-axis is on a plane perpendicular to the z-axis and perpendicular to the x-axis; (d) storing brightness corresponding to a position on the y-axis of the retardation compensation film; (e) moving the retardation compensation film to a y-axis position corresponding to the brightness within 5% from the lowest brightness among the brightness stored in step (d); and (f) inspecting the polarizing plate to be inspected by the cross-Nicol method.
(FR)Un procédé d'inspection d'une plaque polarisante selon la présente invention comprend les étapes de : (a) préparation d’une plaque polarisante devant être inspectée ayant un film de libération anisotrope sur une partie inférieure d'un polariseur devant être inspecté ; (b) positionnement d’une plaque polarisante sur le côté d'un dispositif d'inspection, ayant un film de compensation de retard sur une partie supérieure du polariseur sur le côté du dispositif d'inspection, au-dessous de la plaque polarisante devant être inspectée ; (c) mesure de la luminosité par un procédé Nicol croisé lorsque la lumière traverse la plaque polarisante devant être inspectée et la plaque polarisante sur le côté du dispositif d'inspection tout en déplaçant le film de compensation de retard sur l'axe y, l'axe z étant la direction de déplacement de la lumière, l'axe x étant la direction dans laquelle la plaque polarisante devant être inspectée se déplace sur un plan perpendiculaire à l'axe z, et l'axe y est sur un plan perpendiculaire à l'axe z et perpendiculaire à l'axe x ; (d) stockage de la luminosité correspondant à une position sur l'axe y du film de compensation de retard ; (e) le déplacement du film de compensation de retard vers une position d'axe y correspondant à la luminosité à au plus 5 % de la luminosité la plus faible parmi la luminosité stockée dans l'étape (d) ; et (f) inspection de la plaque polarisante devant être inspectée par le procédé Nicol croisé.
(KO)본 발명에 따른 편광판 검사 방법은 (a) 피검사 편광자의 하부에 이방성 이형필름이 구비된 피검사 편광판을 준비하는 단계; (b) 검사기측 편광자의 상부에 위상차 보상필름이 구비된 검사기측 편광판을 상기 피검사 편광판의 하부로 위치시키는 단계; (c) 상기 위상차 보상필름을 y축 상으로 이동시키면서 크로스니콜법을 이용하여 빛이 상기 피검사 편광판과 상기 검사기측 편광판을 통과했을 때의 밝기를 측정하는 단계로서, 이때 z축은 상기 빛의 진행 방향이고, x축은 상기 z축에 수직인 평면 상에서 상기 피검사 편광판이 이동하는 방향이며, y축은 상기 z축에 수직인 평면 상에 존재하고 상기 x축에 수직인 단계; (d) 상기 위상차 보상필름의 y축 상의 위치에 따른 밝기를 저장하는 단계; (e) 상기 위상차 보상필름을 상기 (d) 단계에서 저장된 밝기들 중 가장 작은 밝기로부터 5% 이내의 밝기에 해당하는 y축 위치로 이동하는 단계; 및 (f) 크로스니콜법으로 상기 피검사 편광판을 검사하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 한다.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : coréen (KO)
Langue de dépôt : coréen (KO)