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1. (WO2017170260) DISPOSITIF DE TRAITEMENT D'INSPECTION, SYSTÈME D'INSPECTION, DISPOSITIF D'ENREGISTREMENT DE MAÎTRE DE PRODUIT, PROCÉDÉ DE TRAITEMENT D'INSPECTION ET PROGRAMME

Pub. No.:    WO/2017/170260    International Application No.:    PCT/JP2017/012121
Publication Date: Fri Oct 06 01:59:59 CEST 2017 International Filing Date: Sat Mar 25 00:59:59 CET 2017
IPC: G06T 7/00
B65G 1/137
G01G 19/52
Applicants: NEC CORPORATION
日本電気株式会社
Inventors: HIDAKA Yasushi
日高 康
KONDOH Katsuhiko
近藤 克彦
KOMINAMI Tomohiro
小南 友宏
Title: DISPOSITIF DE TRAITEMENT D'INSPECTION, SYSTÈME D'INSPECTION, DISPOSITIF D'ENREGISTREMENT DE MAÎTRE DE PRODUIT, PROCÉDÉ DE TRAITEMENT D'INSPECTION ET PROGRAMME
Abstract:
La présente invention concerne un dispositif de traitement d'inspection qui comporte : une unité de détermination d'image de produit servant à spécifier une image servant à chacun d'au moins un produit d'inspection qui est un objet à inspecter sur la base de premières données d'inspection comprenant au moins une quantité d'inspection indiquant chacun du ou des produits d'inspection et de la quantité du ou des produits d'inspection, et d'une première image d'objet d'inspection indiquant un groupe de produits qui correspond aux premières données d'inspection ; une unité d'enregistrement de données de produit servant à enregistrer l'image spécifiée dans une unité de stockage ; et une unité de collationnement servant à spécifier un produit du même type que l'un des au moins un produit d'inspection parmi les produits compris dans une seconde image d'objet d'inspection qui correspond à des secondes données d'inspection sur la base de l'image stockée dans l'unité de stockage.