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1. (WO2017170119) DISPOSITIF DE MESURE DE FORME DE SURFACE ET PROCÉDÉ DE MESURE DE FORME DE SURFACE
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N° de publication : WO/2017/170119 N° de la demande internationale : PCT/JP2017/011711
Date de publication : 05.10.2017 Date de dépôt international : 23.03.2017
Demande présentée en vertu du Chapitre 2 : 23.08.2017
CIB :
G01B 5/20 (2006.01) ,G01B 21/20 (2006.01) ,G01G 19/52 (2006.01)
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
B
MESURE DE LA LONGUEUR, DE L'ÉPAISSEUR OU DE DIMENSIONS LINÉAIRES ANALOGUES; MESURE DES ANGLES; MESURE DES SUPERFICIES; MESURE DES IRRÉGULARITÉS DES SURFACES OU CONTOURS
5
Dispositions pour la mesure caractérisées par l'utilisation de moyens mécaniques
20
pour mesurer des contours ou des courbes
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
B
MESURE DE LA LONGUEUR, DE L'ÉPAISSEUR OU DE DIMENSIONS LINÉAIRES ANALOGUES; MESURE DES ANGLES; MESURE DES SUPERFICIES; MESURE DES IRRÉGULARITÉS DES SURFACES OU CONTOURS
21
Dispositions pour la mesure ou leurs détails pour autant qu'ils ne soient pas adaptés à des types particuliers de moyens de mesure faisant l'objet des autres groupes de la présente sous-classe
20
pour mesurer des contours ou des courbes, p.ex. pour déterminer un profil
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
G
PESÉE
19
Appareils ou méthodes de pesée adaptés à des fins particulières non prévues dans les groupes G01G11/-G01G17/145
52
Appareils de pesée combinés avec d'autres objets, p.ex. avec de l'ameublement
Déposants :
株式会社東京精密 TOKYO SEIMITSU CO., LTD. [JP/JP]; 東京都八王子市石川町2968-2 2968-2, Ishikawa-machi, Hachioji-shi, Tokyo 1928515, JP
Inventeurs :
増田 光 MASUTA, Hikaru; JP
Mandataire :
松浦 憲三 MATSUURA, Kenzo; JP
Données relatives à la priorité :
2016-07020931.03.2016JP
Titre (EN) SURFACE SHAPE MEASURING DEVICE AND SURFACE SHAPE MEASURING METHOD
(FR) DISPOSITIF DE MESURE DE FORME DE SURFACE ET PROCÉDÉ DE MESURE DE FORME DE SURFACE
(JA) 表面形状測定装置及び表面形状測定方法
Abrégé :
(EN) Provided are a surface shape measuring device and a surface shape measuring method with which it is simple to improve the measuring accuracy of the surface shape of a workpiece. This surface shape measuring device is provided with a detector which detects displacement of a probe, and a relative movement unit which causes the workpiece to move relative to the detector, wherein with the probe brought into contact with the workpiece, the surface shape of the workpiece is measured on the basis of a result of detecting the displacement of the probe using the detector, while the workpiece is moved relative to the detector by means of the relative movement unit, and wherein the surface shape measuring device is additionally provided with a weight detecting unit which detects the weight of the workpiece.
(FR) L'invention concerne un dispositif de mesure de forme de surface et un procédé de mesure de forme de surface, avec lesquels il est simple d'améliorer la précision de mesure de la forme de surface d'une pièce. Ce dispositif de mesure de forme de surface comprend un détecteur, qui détecte le déplacement d'une sonde, et une unité de mouvement relatif qui amène la pièce à se déplacer par rapport au détecteur, la sonde étant amenée en contact avec la pièce, la forme de surface de la pièce est mesurée sur la base d'un résultat de détection du déplacement de la sonde à l'aide du détecteur, tandis que la pièce est déplacée par rapport au détecteur au moyen de l'unité de mouvement relatif, et le dispositif de mesure de forme de surface comprenant en outre une unité de détection de poids qui détecte le poids de la pièce.
(JA) ワークの表面形状の測定精度を簡単に向上させることができる表面形状測定装置及び表面形状測定方法を提供する。測定子の変位を検出する検出器と、ワークを検出器に対して相対移動させる相対移動部と、を備え、ワークに対して測定子を当接させた状態で、相対移動部によりワークを検出器に対して相対移動させながら、検出器で測定子の変位を検出した結果に基づき、ワークの表面形状を測定する表面形状測定装置において、ワークの重量を検出する重量検出部を備える。
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Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)