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1. (WO2017169247) ANALYSEUR DE FLUORESCENCE X ET PROCÉDÉ D’ANALYSE DE FLUORESCENCE X

Pub. No.:    WO/2017/169247    International Application No.:    PCT/JP2017/005679
Publication Date: Fri Oct 06 01:59:59 CEST 2017 International Filing Date: Fri Feb 17 00:59:59 CET 2017
IPC: G01N 23/223
G01N 23/207
Applicants: RIGAKU CORPORATION
株式会社リガク
Inventors: OMOTE, Kazuhiko
表 和彦
OKUDA, Kazuaki
奥田 和明
YAMADA, Takashi
山田 隆
Title: ANALYSEUR DE FLUORESCENCE X ET PROCÉDÉ D’ANALYSE DE FLUORESCENCE X
Abstract:
La présente invention concerne un analyseur de fluorescence X (1) qui est pourvu d’un tube à rayons X (2), d’éléments de dispersion (43a-c, 44a-f) qui dispersent les rayons X (3) irradiés par le tube à rayons X (2) et réfléchissent des rayons X caractéristiques prescrits et des rayons X consécutifs prescrits qui ont une énergie plus élevée que les rayons X caractéristiques prescrits, et d’un détecteur (10) pour mesurer l’intensité de rayons X secondaires (9) émis par un échantillon (S) irradié avec les rayons X primaires (7) qui comprennent les rayons X caractéristiques prescrits et les rayons X consécutifs prescrits. L'analyseur de fluorescence X (1) détermine la quantité d'un élément à mesurer sur la base du rapport de l'intensité mesurée de la fluorescence X (9) émise par l'élément à mesurer à l'intensité mesurée de la fluorescence X qui a une énergie plus élevée que les rayons X caractéristiques prescrits et a été émise par un élément standard interne désigné parmi les éléments inclus dans le matériau cible du tube à rayons X (2).