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1. (WO2017168979) SYSTÈME D'AUTOMATISATION D'INSPECTION D'ÉCHANTILLON

Pub. No.:    WO/2017/168979    International Application No.:    PCT/JP2017/001670
Publication Date: Fri Oct 06 01:59:59 CEST 2017 International Filing Date: Fri Jan 20 00:59:59 CET 2017
IPC: G01N 35/04
G01N 35/02
Applicants: HITACHI HIGH-TECHNOLOGIES CORPORATION
株式会社日立ハイテクノロジーズ
Inventors: KINUGAWA Kohei
衣川 耕平
KAMBARA Katsuhiro
神原 克宏
YAMAGATA Toshiki
山形 俊樹
Title: SYSTÈME D'AUTOMATISATION D'INSPECTION D'ÉCHANTILLON
Abstract:
L'invention concerne un système d'automatisation d'inspection d'échantillon qui comprend des mécanismes de réglage d'orientation de support 40a, 40b pour régler les orientations de supports de récipient d'échantillon 10 qui contiennent chacun un récipient d'échantillon 1. Les mécanismes de réglage d'orientation de support 40a, 40b comportent chacun : un mécanisme d'arrêt 41 qui est disposé au-dessus d'une ligne de transport 202a, 202b pour transporter un support de récipient d'échantillon 10 et restreint le mouvement descendant du support de récipient d'échantillon 10 par butée, à la même hauteur qu'une partie entaillée 12a disposée sur un côté d'une base 12 du support de récipient d'échantillon 10, d'une partie circonférentielle externe autre que la partie entaillée 12a dans la direction circonférentielle de la base 12 ; et un mécanisme de rotation de support 42 qui restreint le mouvement du support de récipient d'échantillon 10 à l'écart du mécanisme d'arrêt 41 et tourne le support de récipient d'échantillon 10 dans la direction circonférentielle. En conséquence, il est possible de régler de manière appropriée l'orientation d'un récipient d'échantillon, dans lequel un échantillon est logé, et de réduire la complexité de travail.