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1. (WO2017168788) PROCÉDÉ DE DIAGNOSTIC D'ANOMALIE DE DISPOSITIF ET DISPOSITIF DE DIAGNOSTIC D'ANOMALIE DE DISPOSITIF

Pub. No.:    WO/2017/168788    International Application No.:    PCT/JP2016/076906
Publication Date: Fri Oct 06 01:59:59 CEST 2017 International Filing Date: Wed Sep 14 01:59:59 CEST 2016
IPC: G05B 23/02
G01M 99/00
Applicants: MITSUBISHI HITACHI POWER SYSTEMS, LTD.
三菱日立パワーシステムズ株式会社
Inventors: KUBO, Hiroyoshi
久保 博義
AOTA, Hiromi
青田 浩美
SHIBATA, Yasunari
柴田 泰成
YOKOHAMA, Katsuhiko
横濱 克彦
ISHIZU, Yasunori
石津 安規
KOYAMA, Yoshinori
小山 智規
Title: PROCÉDÉ DE DIAGNOSTIC D'ANOMALIE DE DISPOSITIF ET DISPOSITIF DE DIAGNOSTIC D'ANOMALIE DE DISPOSITIF
Abstract:
Le procédé de diagnostic d'anomalie de dispositif selon la présente invention est un procédé de diagnostic d'anomalie pour diagnostiquer une anomalie d'un dispositif à diagnostiquer parmi des dispositifs constitutifs d'une installation, et comprend : une étape d'acquisition de données de série chronologique sur de multiples quantités d'état de l'installation qui sont corrélées à l'anomalie du dispositif à diagnostiquer; une étape d'acquisition de données pour un diagnostic d'anomalie des multiples quantités d'état en effectuant un prétraitement pendant lequel des données sur au moins une quantité d'état parmi les multiples quantités d'état qui sont acquises pendant une période d'exclusion, c'est-à-dire au moins une partie d'une période d'état transitoire pendant laquelle le dispositif à diagnostiquer est affecté par un changement de l'état d'un autre dispositif constitutif de l'installation par rapport à l'au moins une quantité d'état, sont soustraites des données de série chronologique des quantités d'état; et une étape pour effectuer un diagnostic d'anomalie du dispositif à diagnostiquer sur la base des données pour un diagnostic d'anomalie des multiples quantités d'état.