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1. (WO2017168780) DISPOSITIF ET PROCÉDÉ D'INSPECTION DE DÉFAUT DE SURFACE DANS UNE PLAQUE D'ACIER

Pub. No.:    WO/2017/168780    International Application No.:    PCT/JP2016/074638
Publication Date: Fri Oct 06 01:59:59 CEST 2017 International Filing Date: Thu Aug 25 01:59:59 CEST 2016
IPC: G01N 21/892
Applicants: NISSHIN STEEL CO., LTD.
日新製鋼株式会社
Inventors: FUKUI Keita
福井 圭太
SHIGA Syunsuke
志賀 駿介
Title: DISPOSITIF ET PROCÉDÉ D'INSPECTION DE DÉFAUT DE SURFACE DANS UNE PLAQUE D'ACIER
Abstract:
La présente invention détecte et distingue une anomalie d'aspect nuisible d'une tache d'huile, une bande de recuit ou similaire comme anomalie d'aspect inoffensive dans une feuille d'acier en tant qu'objet d'inspection dans laquelle un placage ou un autre traitement de surface n'est pas effectué sur une surface de cette dernière. La présente invention comprend une unité d'éclairage (3) permettant d'éclairer une région d'objet d'imagerie (8), une première unité d'imagerie de lumière de réflexion diffusée (4) permettant de capturer une image de la lumière de réflexion diffusée dans une direction dans laquelle l'angle de cette dernière avec une direction de réflexion régulière est un premier angle γ, une seconde unité d'imagerie de lumière de réflexion diffusée (5) permettant de capturer une image de la lumière de réflexion diffusée dans une direction dans laquelle l'angle de cette dernière avec la direction de réflexion régulière est un second angle δ (où δ > γ), et une unité de traitement de signal d'image (6) permettant de traiter un premier signal d'image de réflexion diffusée (T1) obtenu par capture d'image par la première unité d'imagerie de lumière de réflexion diffusée (4) et un second signal d'image de réflexion diffusée (T2) obtenu par capture d'image par la seconde unité d'imagerie de lumière de réflexion diffusée. L'unité de traitement de signal d'image (6) détecte comme région de défaut de surface une région présentant une luminance inférieure à une première valeur seuil prédéterminée dans le premier signal d'image de réflexion diffusée (T1), le second signal d'image de réflexion diffusée (T2) présentant une luminance supérieure à une seconde valeur seuil prédéterminée pour la région.