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1. (WO2017168506) PROCÉDÉ D'INSPECTION D'IgE SPÉCIFIQUE ET DISPOSITIF D'INSPECTION D'IgE SPÉCIFIQUE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication : WO/2017/168506 N° de la demande internationale : PCT/JP2016/059881
Date de publication : 05.10.2017 Date de dépôt international : 28.03.2016
Demande présentée en vertu du Chapitre 2 : 27.09.2016
CIB :
G01N 33/53 (2006.01)
[IPC code unknown for G01N 33/53]
Déposants :
日立化成株式会社 HITACHI CHEMICAL COMPANY, LTD. [JP/JP]; 東京都千代田区丸の内一丁目9番2号 9-2, Marunouchi 1-chome, Chiyoda-ku, Tokyo 1006606, JP
Inventeurs :
内田 剛 UCHIDA Tsuyoshi; JP
清水 仁美 SHIMIZU Hitomi; JP
Mandataire :
長谷川 芳樹 HASEGAWA Yoshiki; JP
Données relatives à la priorité :
Titre (EN) SPECIFIC IgE INSPECTION METHOD AND SPECIFIC IgE INSPECTION DEVICE
(FR) PROCÉDÉ D'INSPECTION D'IgE SPÉCIFIQUE ET DISPOSITIF D'INSPECTION D'IgE SPÉCIFIQUE
(JA) 特異的IgE検査方法及び特異的IgE検査装置
Abrégé :
(EN) This specific IgE inspection method has a step for causing a specimen to come into contact with a plurality of items of allergens that are each individually fixed to a single inspection chip, a step for imaging the area of the inspection chip to which the plurality of items of allergens have been fixed and optically detecting reactions between the specimen and allergens, a step for selecting items on which to carry out specific IgE inspection from among the information for the plurality of items of allergens subjected to optical detection, and a step for carrying out specific IgE inspection on the selected items.
(FR) La présente invention concerne un procédé d'inspection d'IgE spécifique qui comprend une étape consistant à amener un spécimen à venir en contact avec une pluralité d'éléments d'allergènes qui sont chacun individuellement fixés à une seule puce d'inspection, une étape consistant à imager la zone de la puce d'inspection à laquelle la pluralité d'éléments d'allergènes ont été fixés et à détecter optiquement des réactions entre le spécimen et les allergènes, une étape consistant à sélectionner des éléments sur lesquels réaliser une inspection d'IgE spécifique parmi les informations pour la pluralité d'éléments d'allergènes soumis à une détection optique, et une étape consistant à effectuer une inspection d'IgE spécifique sur les éléments sélectionnés.
(JA) 特異的IgE検査方法は、1つの検査チップに対して個別に固定化された複数項目のアレルゲンに対して、検体を接触させる工程と、前記検査チップにおける前記複数項目のアレルゲンが固定化された領域を撮像し、検体とアレルゲンとの反応を光学的に検出する工程と、前記光学的に検出された複数項目のアレルゲンに係る情報のうち、特異的IgEに係る検査を行う項目を選択する工程と、前記選択された項目について、特異的IgEに係る検査を行う工程と、を有する。
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Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)