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1. (WO2017167690) COMPOSITION PHOTOSENSIBLE DE TYPE NÉGATIF DURCISSABLE À BASSE TEMPÉRATURE
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N° de publication : WO/2017/167690 N° de la demande internationale : PCT/EP2017/057195
Date de publication : 05.10.2017 Date de dépôt international : 27.03.2017
CIB :
G03F 7/075 (2006.01) ,G03F 7/40 (2006.01) ,G03F 7/039 (2006.01) ,G03F 7/038 (2006.01)
G PHYSIQUE
03
PHOTOGRAPHIE; CINÉMATOGRAPHIE; TECHNIQUES ANALOGUES UTILISANT D'AUTRES ONDES QUE DES ONDES OPTIQUES; ÉLECTROGRAPHIE; HOLOGRAPHIE
F
PRODUCTION PAR VOIE PHOTOMÉCANIQUE DE SURFACES TEXTURÉES, p.ex. POUR L'IMPRESSION, POUR LE TRAITEMENT DE DISPOSITIFS SEMI-CONDUCTEURS; MATÉRIAUX À CET EFFET; ORIGINAUX À CET EFFET; APPAREILLAGES SPÉCIALEMENT ADAPTÉS À CET EFFET
7
Production par voie photomécanique, p.ex. photolithographique, de surfaces texturées, p.ex. surfaces imprimées; Matériaux à cet effet, p.ex. comportant des photoréserves; Appareillages spécialement adaptés à cet effet
004
Matériaux photosensibles
075
Composés contenant du silicium
G PHYSIQUE
03
PHOTOGRAPHIE; CINÉMATOGRAPHIE; TECHNIQUES ANALOGUES UTILISANT D'AUTRES ONDES QUE DES ONDES OPTIQUES; ÉLECTROGRAPHIE; HOLOGRAPHIE
F
PRODUCTION PAR VOIE PHOTOMÉCANIQUE DE SURFACES TEXTURÉES, p.ex. POUR L'IMPRESSION, POUR LE TRAITEMENT DE DISPOSITIFS SEMI-CONDUCTEURS; MATÉRIAUX À CET EFFET; ORIGINAUX À CET EFFET; APPAREILLAGES SPÉCIALEMENT ADAPTÉS À CET EFFET
7
Production par voie photomécanique, p.ex. photolithographique, de surfaces texturées, p.ex. surfaces imprimées; Matériaux à cet effet, p.ex. comportant des photoréserves; Appareillages spécialement adaptés à cet effet
26
Traitement des matériaux photosensibles; Appareillages à cet effet
40
Traitement après le dépouillement selon l'image, p.ex. émaillage
G PHYSIQUE
03
PHOTOGRAPHIE; CINÉMATOGRAPHIE; TECHNIQUES ANALOGUES UTILISANT D'AUTRES ONDES QUE DES ONDES OPTIQUES; ÉLECTROGRAPHIE; HOLOGRAPHIE
F
PRODUCTION PAR VOIE PHOTOMÉCANIQUE DE SURFACES TEXTURÉES, p.ex. POUR L'IMPRESSION, POUR LE TRAITEMENT DE DISPOSITIFS SEMI-CONDUCTEURS; MATÉRIAUX À CET EFFET; ORIGINAUX À CET EFFET; APPAREILLAGES SPÉCIALEMENT ADAPTÉS À CET EFFET
7
Production par voie photomécanique, p.ex. photolithographique, de surfaces texturées, p.ex. surfaces imprimées; Matériaux à cet effet, p.ex. comportant des photoréserves; Appareillages spécialement adaptés à cet effet
004
Matériaux photosensibles
039
Composés macromoléculaires photodégradables, p.ex. réserves positives sensibles aux électrons
G PHYSIQUE
03
PHOTOGRAPHIE; CINÉMATOGRAPHIE; TECHNIQUES ANALOGUES UTILISANT D'AUTRES ONDES QUE DES ONDES OPTIQUES; ÉLECTROGRAPHIE; HOLOGRAPHIE
F
PRODUCTION PAR VOIE PHOTOMÉCANIQUE DE SURFACES TEXTURÉES, p.ex. POUR L'IMPRESSION, POUR LE TRAITEMENT DE DISPOSITIFS SEMI-CONDUCTEURS; MATÉRIAUX À CET EFFET; ORIGINAUX À CET EFFET; APPAREILLAGES SPÉCIALEMENT ADAPTÉS À CET EFFET
7
Production par voie photomécanique, p.ex. photolithographique, de surfaces texturées, p.ex. surfaces imprimées; Matériaux à cet effet, p.ex. comportant des photoréserves; Appareillages spécialement adaptés à cet effet
004
Matériaux photosensibles
038
Composés macromoléculaires rendus insolubles ou sélectivement mouillables
Déposants :
AZ ELECTRONIC MATERIALS (LUXEMBOURG) S.A.R.L. [LU/LU]; 46 Place Guillaume II 1648 Luxembourg, LU
Inventeurs :
MISUMI, Motoki; JP
YOKOYAMA, Daishi; JP
TANIGUCHI, Katsuto; JP
KUZAWA, Masahiro; JP
Mandataire :
B2B PATENTS; c/o Merck Patent GmbH 64271 Darmstadt, DE
Données relatives à la priorité :
2016-06910030.03.2016JP
Titre (EN) NEGATIVE TYPE PHOTOSENSITIVE COMPOSITION CURABLE AT LOW TEMPERATURE
(FR) COMPOSITION PHOTOSENSIBLE DE TYPE NÉGATIF DURCISSABLE À BASSE TEMPÉRATURE
Abrégé :
(EN) [Object] To provide a negative type photosensitive composition developable with a low concentration alkali developer and capable of forming a cured film excellent in transparency, in chemical resistance and in environmental durability; and further to provide a pattern-formation method employing the composition. [Means] The present invention provides a negative type photosensitive composition comprising : (I) an alkali-soluble resin, namely, a polymer comprising a carboxyl-containing polymerization unit and an alkoxysilyl-containing polymerization unit, (II) a polysiloxane, (III) a compound having two or more (meth)acryloyloxy groups, (IV) (i) a silicone derivative having a particular structure and/or (ii) a compound having two or more epoxy groups, (V) a polymerization initiator, and (VI) a solvent.
(FR) La présente invention vise à fournir une composition photosensible de type négatif, pouvant être développée avec un révélateur alcalin à basse concentration et susceptible de former un film durci ayant une excellente transparence, une excellente résistance aux produits chimiques et une excellente durabilité environnementale ; et fournir également un procédé de formation de motif utilisant la composition. À cet effet, la présente invention concerne une composition photosensible de type négatif comprenant : (I) une résine soluble en milieu alcalin, notamment un polymère comprenant une unité de polymérisation contenant un carboxyle et une unité de polymérisation contenant un alcoxysilyle, (II) un polysiloxane, (III) un composé ayant au moins deux groupes (méth)acryloyloxy, (IV) (i) un dérivé de silicone ayant une structure particulière et/ou (ii) un composé ayant au moins deux groupes époxy, (V) un initiateur de polymérisation, et (VI) un solvant.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)