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1. (WO2017167294) PROCÉDÉ DE TRAITEMENT PAR ONDES DE MATIÈRE ET APPAREIL D'INSPECTION NON INVASIVE
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N° de publication : WO/2017/167294 N° de la demande internationale : PCT/CN2017/079105
Date de publication : 05.10.2017 Date de dépôt international : 31.03.2017
Demande présentée en vertu du Chapitre 2 : 20.11.2017
CIB :
G01B 11/00 (2006.01)
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
B
MESURE DE LA LONGUEUR, DE L'ÉPAISSEUR OU DE DIMENSIONS LINÉAIRES ANALOGUES; MESURE DES ANGLES; MESURE DES SUPERFICIES; MESURE DES IRRÉGULARITÉS DES SURFACES OU CONTOURS
11
Dispositions pour la mesure caractérisées par l'utilisation de moyens optiques
Déposants :
KEN, Weng-Dah [CN/CN]; CN
KAN, Fang-Chi [CN/CN]; CN
Inventeurs :
KEN, Weng-Dah; CN
KAN, Fang-Chi; CN
Mandataire :
BEIJING SANYOU INTELLECTUAL PROPERTY AGENCY LTD.; 16th Fl., Block A, Corporate Square No.35 Jinrong Street Beijing 100033, CN
Données relatives à la priorité :
62/316,50731.03.2016US
Titre (EN) MATTER WAVE TREATMENT METHOD AND NON-INVASIVE INSPECTION APPARATUS
(FR) PROCÉDÉ DE TRAITEMENT PAR ONDES DE MATIÈRE ET APPAREIL D'INSPECTION NON INVASIVE
Abrégé :
(EN) A non-contact angle measuring apparatus includes a matter-wave and energy (MWE) particle source and a detector. The MWE particle source is used for generating boson or fermion particles. The detector is used for detecting a plurality peaks or valleys of an interference pattern generated by 1) the boson or fermion particles corresponding to a slit, a bump, or a hole of a first plane and 2) matter waves'wavefront-split associated with the boson or fermion particles reflected by a second plane, wherein angular locations of the plurality peaks or valleys of the interference pattern, a first distance between a joint region of the first plane and the second plane, and a second distance between the detector and the slit are used for deciding an angle between the first plane and the second plane.
(FR) L'invention concerne un appareil de mesure d'angle sans contact qui comprend une source de particules d'onde de matière et d'énergie (MWE) et un détecteur. La source de particules MWE est utilisée pour générer des particules de type boson ou fermion. Le détecteur est utilisé pour détecter une pluralité de pics ou de vallées d'un motif d'interférence généré par 1) les particules de type boson ou fermion correspondant à une fente, une bosse, ou un trou d'un premier plan et 2) une fraction de front d'onde des ondes de matière associée aux particules de type boson ou fermion réfléchies par un second plan, des emplacements angulaires de la pluralité de pics ou de creux du motif d'interférence, une première distance entre une région de jonction du premier plan et du second plan, et une seconde distance entre le détecteur et la fente étant utilisés pour déterminer un angle entre le premier plan et le second plan.
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États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
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Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)