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1. (WO2017145672) DISPOSITIF D'ANALYSE AUTOMATISÉ ET PROCÉDÉ DE NETTOYAGE

Pub. No.:    WO/2017/145672    International Application No.:    PCT/JP2017/003475
Publication Date: Fri Sep 01 01:59:59 CEST 2017 International Filing Date: Wed Feb 01 00:59:59 CET 2017
IPC: G01N 35/10
Applicants: HITACHI HIGH-TECHNOLOGIES CORPORATION
株式会社日立ハイテクノロジーズ
Inventors: MURAMATSU Yoshiki
村松 由規
YASUI Akihiro
安居 晃啓
SUZUKI Yoshihiro
鈴木 慶弘
ARUGA Yoichi
有賀 洋一
Title: DISPOSITIF D'ANALYSE AUTOMATISÉ ET PROCÉDÉ DE NETTOYAGE
Abstract:
Une cuve de nettoyage 113, 108, 106 comprend : un orifice d'évacuation d'eau de nettoyage 203 qui évacue l'eau de nettoyage fournie par un mécanisme 123 d'alimentation en eau de nettoyage dans la cuve de nettoyage 113, 108, 106 ; et un orifice d'évacuation d'air comprimé 204 disposé sur la trajectoire de l'eau de nettoyage évacuée depuis l'orifice d'évacuation d'eau de nettoyage 203 et provoquant une évacuation de l'air comprimé fourni par un mécanisme 124 d'alimentation en air comprimé en direction d'une sonde d'échantillonnage 111b ou d'une sonde pour réactif 120 introduite dans la cuve de nettoyage 113, 108, 106. L'invention concerne ainsi un dispositif d'analyse automatique extrêmement fiable et un procédé de nettoyage de sondes au moyen desquels il est possible d'éliminer l'eau de nettoyage résiduelle de la surface de paroi extérieure de la sonde sans contaminer la surface de paroi extérieure de la sonde et sans agrandissement de la cuve de nettoyage.