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1. (WO2017145601) DISPOSITIF D’ANALYSE AUTOMATIQUE

Pub. No.:    WO/2017/145601    International Application No.:    PCT/JP2017/001982
Publication Date: Fri Sep 01 01:59:59 CEST 2017 International Filing Date: Sat Jan 21 00:59:59 CET 2017
IPC: G01N 35/00
Applicants: HITACHI HIGH-TECHNOLOGIES CORPORATION
株式会社日立ハイテクノロジーズ
Inventors: KANEKO Yasuo
兼子 康雄
NODA Takayuki
野田 貴之
HANAWA Toshihide
塙 俊英
Title: DISPOSITIF D’ANALYSE AUTOMATIQUE
Abstract:
La présente invention concerne un dispositif d'analyse automatique qui effectue une analyse à l'aide d'un spécimen et d'un réactif et qui est est doté : d'une unité de gestion d'état de dispositif qui gère un état de dispositif du dispositif d'analyse automatique ; d'une unité de détection d'anomalie qui détecte des anomalies dans le dispositif d'analyse automatique sur la base d'informations relatives à l'état de dispositif géré par l'unité de gestion d'état de dispositif, et d'une référence prédéterminée ; d'une unité de planification d'alarme qui, pour chacun des éléments anormaux détectés par l'unité de détection d'anomalie, planifie au moins deux alarmes, à savoir une alarme d'anomalie qui, en cas d'anomalie, émet une notification à cet effet, et une alarme contre-mesure possible qui, si l'état de dispositif est tel que l'anomalie peut être gérée, émet une notification à cet effet à un utilisateur; et d'une unité de notification qui émet une notification des alarmes prévues par l'unité de planification d'alarme. Par ce moyen, il est possible de supprimer des réductions de l'efficacité d'inspection et des retards à émettre un rapport de résultat d'inspection.