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1. (WO2017145320) DÉTECTEUR D'INDICE DE RÉFRACTION DIFFÉRENTIEL
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication : WO/2017/145320 N° de la demande internationale : PCT/JP2016/055593
Date de publication : 31.08.2017 Date de dépôt international : 25.02.2016
CIB :
G01N 21/41 (2006.01)
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
N
RECHERCHE OU ANALYSE DES MATÉRIAUX PAR DÉTERMINATION DE LEURS PROPRIÉTÉS CHIMIQUES OU PHYSIQUES
21
Recherche ou analyse des matériaux par l'utilisation de moyens optiques, c. à d. en utilisant des rayons infrarouges, visibles ou ultraviolets
17
Systèmes dans lesquels la lumière incidente est modifiée suivant les propriétés du matériau examiné
41
Réfringence; Propriétés liées à la phase, p.ex. longueur du chemin optique
Déposants :
株式会社島津製作所 SHIMADZU CORPORATION [JP/JP]; 京都府京都市中京区西ノ京桑原町1番地 1, Nishinokyo-Kuwabara-cho, Nakagyo-ku, Kyoto-shi, Kyoto 6048511, JP
Inventeurs :
山口 亨 YAMAGUCHI, Toru; JP
田窪 健二 TAKUBO, Kenji; JP
Mandataire :
特許業務法人京都国際特許事務所 KYOTO INTERNATIONAL PATENT LAW OFFICE; 京都府京都市下京区東洞院通四条下ル元悪王子町37番地 豊元四条烏丸ビル Hougen-Sizyokarasuma Building, 37, Motoakuozi-tyo, Higasinotouin Sizyo-sagaru, Simogyo-ku, Kyoto-si, Kyoto 6008091, JP
Données relatives à la priorité :
Titre (EN) DIFFERENTIAL REFRACTIVE INDEX DETECTOR
(FR) DÉTECTEUR D'INDICE DE RÉFRACTION DIFFÉRENTIEL
(JA) 示差屈折率検出器
Abrégé :
(EN) Provided is a differential refractive index detector capable of measuring the refractive index of a sample solution having a small refractive index difference from a reference solution with a high signal-to-noise ratio. In a differential refractive index detector 100 provided with a light source for irradiating measurement light so as to pass through a sample solution cell 152 and a reference solution cell 151, a high-brightness semiconductor light source 110 such as a current-constricting LED is used as the light source. Additionally, efficiency is enhanced by making the shape of a light-emission part 117 of the high-brightness semiconductor light source 110 a shape that corresponds to the irradiation surface 153 of the flow cell 150.
(FR) L'invention concerne un détecteur d'indice de réfraction différentiel permettant de mesurer l'indice de réfraction d'une solution échantillon ayant une petite différence d'indice de réfraction par rapport à une solution de référence avec un rapport signal sur bruit élevé. Un détecteur d'indice de réfraction différentiel 100, pourvu d'une source de lumière servant à soumettre une cellule 152 de solution échantillon et une cellule 151 de solution de référence à un rayonnement traversant de lumière de mesure, fait appel à une source de lumière à semi-conducteurs à haute luminosité 110, telle qu'une DEL de limitation de courant, qui est utilisée comme source de lumière. En outre, l'efficacité est améliorée en donnant à une partie d'émission de lumière 117 de la source de lumière à semi-conducteurs à haute luminosité 110 une forme qui correspond à la surface 153 d'exposition au rayonnement de la cuve à circulation 150.
(JA)  参照溶液に対して屈折率差の小さい試料溶液の屈折率を高いS/N比で測定することができる示差屈折率検出器を提供する。試料溶液セル152及び参照溶液セル151を通過するように測定光を照射する光源を備えた示差屈折率検出器100において、光源として、電流狭窄型LED等の高輝度半導体光源110を用いる。さらに、高輝度半導体光源110の発光部117の形状をフローセル150の照射面153に対応した形状とすることで効率を上げる。
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Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)