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1. (WO2017145295) DISPOSITIF DE MESURE ET TESTEUR DE MATÉRIAU
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N° de publication :    WO/2017/145295    N° de la demande internationale :    PCT/JP2016/055472
Date de publication : 31.08.2017 Date de dépôt international : 24.02.2016
CIB :
G01N 3/06 (2006.01)
Déposants : SHIMADZU CORPORATION [JP/JP]; 1, Nishinokyo Kuwabara-cho, Nakagyo-ku, Kyoto-shi, Kyoto 6048511 (JP)
Inventeurs : TSUJI Hiroshi; (JP)
Mandataire : OTSUBO Takashi; (JP)
Données relatives à la priorité :
Titre (EN) MEASUREMENT DEVICE AND MATERIAL TESTER
(FR) DISPOSITIF DE MESURE ET TESTEUR DE MATÉRIAU
(JA) 測定装置および材料試験機
Abrégé : front page image
(EN)When the sensor-amplifier-side connector of a cable unit 24 for connecting a detector and a sensor amplifier 42 is connected to the sensor amplifier 42, a gain resistor 26 on the side of the cable unit 24 and an instrumentation amplifier 56 of the sensor amplifier 42 are connected, and the gain of the instrumentation amplifier 56 is determined. As a result, the gain of the instrumentation amplifier 56 is determined such that the size of the signal received from the detector by the sensor amplifier 42 is the optimal size for an analog circuit within the sensor amplifier 42.
(FR)Selon l'invention, lorsque le connecteur côté amplificateur de capteur d'une unité de câble (24) pour relier un détecteur et un amplificateur de capteur (42) est connecté à l'amplificateur de capteur (42), une résistance de gain (26) sur le côté de l'unité de câble (24) et un amplificateur d'instrumentation (56) de l'amplificateur de capteur (42) sont connectés, et le gain de l'amplificateur d'instrumentation (56) est déterminé. Par conséquent, le gain de l'amplificateur d'instrumentation (56) est déterminé de telle sorte que la taille du signal reçu en provenance du détecteur par l'amplificateur de capteur (42) est la taille optimale pour un circuit analogique dans l'amplificateur de capteur (42).
(JA)検出器とセンサアンプ42とを接続するためのケーブルユニット24のセンサアンプ側コネクタが、センサアンプ42に接続されると、ケーブルユニット24側のゲイン抵抗器26とセンサアンプ42の計装アンプ56が接続され、計装アンプ56のゲインが決定される。これによりセンサアンプ42が検出器から受信した信号の大きさが、センサアンプ42内のアナログ回路にとって最適な大きさとなるように、計装アンプ56のゲインが決定される。
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)