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1. (WO2017142510) CLASSIFICATION
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N° de publication :    WO/2017/142510    N° de la demande internationale :    PCT/US2016/018024
Date de publication : 24.08.2017 Date de dépôt international : 16.02.2016
CIB :
G06F 17/30 (2006.01), G06F 15/18 (2006.01), G06F 17/00 (2006.01)
Déposants : ENTIT SOFTWARE LLC [US/US]; 1140 Enterprise Way, Building G Sunnyvale, CA 94089 (US)
Inventeurs : FORMAN, George; (US).
NACHLIELI, Hila; (IL)
Mandataire : KIRCHEV, Ivan T.; (US)
Données relatives à la priorité :
Titre (EN) CLASSIFICATION
(FR) CLASSIFICATION
Abrégé : front page image
(EN)An example method comprises performing for each class from a plurality of classes: constructing binary training set for the class, the binary training set including labeled cases for that class from the main training set other labeled cases from the main training set; training classifier for the class on the binary training set; computing a local calibration threshold using scores of the labeled cases in the binary training set; and adjusting all scores of the label cases in the binary training set with the local calibration threshold to meet a global decision threshold. The method also comprises determining, with the processor, a global hierarchical calibration threshold by using the adjusted scores for all classes to optimize a performance measurement of all trained classifiers. The method further comprises classifying, with the processor, a new case by using a previously trained classifier, a local calibration threshold, and the global hierarchical calibration threshold.
(FR)L'invention concerne un procédé donné à titre d'exemple comprenant pour chaque classe parmi une pluralité de classes : la construction d'un ensemble de formation binaire pour la classe, l'ensemble de formation binaire comprenant des cas marqués pour cette classe en provenance de l'ensemble de formation principal et d'autres cas marqués en provenance de l'ensemble de formation principal ; la formation d'un classificateur pour la classe sur l'ensemble de formation binaire ; le calcul d'un seuil d'étalonnage local à l'aide des scores des cas marqués dans l'ensemble de formation binaire ; et le réglage de tous les scores des cas marqués dans l'ensemble de formation binaire sur le seuil d'étalonnage local pour satisfaire un seuil de décision globale. Le procédé comprend également la détermination, avec le processeur, d'un seuil d'étalonnage hiérarchique global à l'aide des scores réglés pour toutes les classes afin d'optimiser une mesure de performance de tous les classificateurs formés. Le procédé comprend également la classification, avec le processeur, d'un nouveau cas à l'aide d'un classificateur formé précédemment, d'un seuil d'étalonnage local et du seuil d'étalonnage hiérarchique global.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)