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1. (WO2017142399) PROCÉDÉ, APPAREIL ET LOGICIEL POUR DÉTECTION ET LOCALISATION DE DÉFAUTS CACHÉS DANS DES MILIEUX OPTIQUEMENT DIFFUS

Pub. No.:    WO/2017/142399    International Application No.:    PCT/NL2017/050086
Publication Date: Fri Aug 25 01:59:59 CEST 2017 International Filing Date: Wed Feb 15 00:59:59 CET 2017
IPC: G01N 21/31
G01N 21/47
G01N 21/49
A61B 5/00
G01J 3/00
G01N 33/02
G01N 33/12
G01N 33/18
Applicants: STICHTING HET NEDERLANDS KANKER INSTITUUT-ANTONI VAN LEEUWENHOEK ZIEKENHUIS
Inventors: RUERS, Theodoor Jacques Marie
KHO, Esther
STERENBORG, Henricus Josephus Cornelus Maria
Title: PROCÉDÉ, APPAREIL ET LOGICIEL POUR DÉTECTION ET LOCALISATION DE DÉFAUTS CACHÉS DANS DES MILIEUX OPTIQUEMENT DIFFUS
Abstract:
Selon l'invention, dans un procédé et un appareil (400), une propriété d'un milieu optiquement diffus comprenant un premier absorbeur optique ayant une première concentration et un second absorbeur optique ayant une seconde concentration est déterminée. Une aire de surface (406) du milieu est imagée à de multiples longueurs d'onde autour d'une longueur d'onde isobestique du premier absorbeur et du second absorbeur. Un spectre de réflectance du milieu à l'aire de surface à de multiples longueurs d'onde est déterminé. Une dérivée du spectre de réflectance déterminé autour de la longueur d'onde isobestique est déterminée. A partir de cette dérivée, un rapport de concentration de la première concentration et de la seconde concentration est estimé.